電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94890. Cu-2Sn, H781, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94890

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H781. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)失敗.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94892. Ni, DF, 100K., [1994年]6/20.

アイテム

資料番号: L-94892

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)焼鈍実験　α　30.5黒2（80）. 日付元記載「6/20」. 実験者元記載「by 小笠原」.

日付: [1994年]6/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94893. Ni, BF, 100K., [1994年]6/20.

アイテム

資料番号: L-94893

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1994年]6/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94894. Ni., [1994年]6/20.

アイテム

資料番号: L-94894

範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)α.

日付: [1994年]6/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94895. Ni., [1994年]6/20.

アイテム

資料番号: L-94895

範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)α.

日付: [1994年]6/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94896. Ni, ED., [1994年]6/20.

アイテム

資料番号: L-94896

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年]6/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94897. Ni, BF, 100K., [1994年]6/20.

アイテム

資料番号: L-94897

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1994年]6/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94898. Ni, BF, 100K., [1994年]6/20.

アイテム

資料番号: L-94898

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]6/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94899. Ni, DF, 100K., [1994年]6/20.

アイテム

資料番号: L-94899

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　29.2　赤7（100）.

日付: [1994年]6/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94900. Ni, BF, 100K., [1994年]6/20.

アイテム

資料番号: L-94900

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]6/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94901. Ni, BF, 100K., [1994年]6/20.

アイテム

資料番号: L-94901

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]6/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94902. Ni, ED., [1994年]6/20.

アイテム

資料番号: L-94902

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)以上RT.

日付: [1994年]6/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94903. Ni, DF, 100K., [1994年]6/20.

アイテム

資料番号: L-94903

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)200℃　β.

日付: [1994年]6/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94904. Ni, DF, 100K., [1994年]6/20.

アイテム

資料番号: L-94904

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)200℃　β.

日付: [1994年]6/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94905. Ni, DF, 100K., [1994年]6/20.

アイテム

資料番号: L-94905

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)200℃　β.

日付: [1994年]6/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94906. Ni, DF, 100K., [1994年]6/20.

アイテム

資料番号: L-94906

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)200℃　β.

日付: [1994年]6/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94907. Ni, DF, 100K., [1994年]6/20.

アイテム

資料番号: L-94907

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)200℃　β.

日付: [1994年]6/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94908. Ni, DF, 100K., [1994年]6/20.

アイテム

資料番号: L-94908

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)200℃　β.

日付: [1994年]6/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94909. Ni, DF, 100K., [1994年]6/20.

アイテム

資料番号: L-94909

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)200℃　β.

日付: [1994年]6/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94910. Ni, BF, 100K., [1994年]6/20.

アイテム

資料番号: L-94910

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)200℃　β.

日付: [1994年]6/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94911. Ni, BF, 100K., [1994年]6/20.

アイテム

資料番号: L-94911

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)200℃　β.

日付: [1994年]6/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94912. Ni, DF, 100K., [1994年6月20日.]

アイテム

資料番号: L-94912

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)200℃　α　30.5黒2（80）. 実験者元記載「by 小笠原」.

日付: [1994年6月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94913. Ni, BF, 100K., [1994年6月20日.]

アイテム

資料番号: L-94913

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)200℃　α.

日付: [1994年6月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94914. Ni, BF, 100K., [1994年6月20日.]

アイテム

資料番号: L-94914

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)200℃　α.

日付: [1994年6月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94915. Ni, DF, 100K., [1994年6月20日.]

アイテム

資料番号: L-94915

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)400℃　α　違う場所.

日付: [1994年6月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94916. Ni, DF, 100K., [1994年6月20日.]

アイテム

資料番号: L-94916

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)400℃　α　正しいい.

日付: [1994年6月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94917. Ni, DF, 100K., [1994年6月20日.]

アイテム

資料番号: L-94917

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)400℃　α.

日付: [1994年6月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94918. Ni, DF, 100K., [1994年6月20日.]

アイテム

資料番号: L-94918

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)400℃　α.

日付: [1994年6月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94919. Ni, DF, 100K., [1994年6月20日.]

アイテム

資料番号: L-94919

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)400℃　α.

日付: [1994年6月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94920. Ni, DF, 100K., [1994年6月20日.]

アイテム

資料番号: L-94920

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)400℃　α.

日付: [1994年6月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94921. Ni, DF, 100K., [1994年6月20日.]

アイテム

資料番号: L-94921

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)400℃　α.

日付: [1994年6月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94922. Ni, DF, 100K., [1994年6月20日.]

アイテム

資料番号: L-94922

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)400℃　α.

日付: [1994年6月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94923. Ni, BF, 100K., [1994年6月20日.]

アイテム

資料番号: L-94923

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)400℃　α.

日付: [1994年6月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94924. Ni, BF, 100K., [1994年6月20日.]

アイテム

資料番号: L-94924

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)400℃　α.

日付: [1994年6月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94925. Ni, DF, 100K., [1994年6月20日.]

アイテム

資料番号: L-94925

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)400℃　β　29.2赤7（100）.

日付: [1994年6月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94926. Ni, BF, 100K., [1994年6月20日.]

アイテム

資料番号: L-94926

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)400℃　β.

日付: [1994年6月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94927. Ni, BF, 100K., [1994年6月20日.]

アイテム

資料番号: L-94927

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)400℃　β.

日付: [1994年6月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94928. Ni, BF, 100K., [1994年6月20日.]

アイテム

資料番号: L-94928

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)400℃　β.

日付: [1994年6月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94929. Ni, BF, 100K., [1994年6月20日.]

アイテム

資料番号: L-94929

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)失敗.

日付: [1994年6月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94930. Al., [1994年6月20日.]

アイテム

資料番号: L-94930

範囲と内容

(試料)Al.

(備考)失敗. 実験者元記載「加ト」.

日付: [1994年6月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94931. Al, DF, 5K., [1994年6月20日.]

アイテム

資料番号: L-94931

範囲と内容

(試料)Al. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K.

日付: [1994年6月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94932. Cu, Cu ion照射120keV., [1994年]6/21.

アイテム

資料番号: L-94932

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu ion照射120keV.

(備考)失敗. 日付元記載「6/21」. 実験者元記載「加藤. 木塚」.

日付: [1994年]6/21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94933. Cu, Cu ion照射120keV., [1994年]6/21.

アイテム

資料番号: L-94933

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu ion照射120keV.

(備考)失敗.

日付: [1994年]6/21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94934. Cu, Cu ion照射120keV, 0.4K., [1994年]6/21.

アイテム

資料番号: L-94934

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu ion照射120keV. (条件・倍率等)0.4K.

(備考)失敗.

日付: [1994年]6/21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94935. Cu, Cu ion照射120keV, 0.4K., [1994年]6/21.

アイテム

資料番号: L-94935

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu ion照射120keV. (条件・倍率等)0.4K.

(備考)マップ.

日付: [1994年]6/21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94936. Cu, Cu ion照射120keV, 0.4K., [1994年]6/21.

アイテム

資料番号: L-94936

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu ion照射120keV. (条件・倍率等)0.4K.

(備考)マップ.

日付: [1994年]6/21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94937. Cu, Cu ion照射120keV, 0.4K., [1994年]6/21.

アイテム

資料番号: L-94937

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu ion照射120keV. (条件・倍率等)0.4K.

(備考)マップ.

日付: [1994年]6/21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94938. Cu, Cu ion照射120keV, 0.4K., [1994年]6/21.

アイテム

資料番号: L-94938

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu ion照射120keV. (条件・倍率等)0.4K.

(備考)マップ.

日付: [1994年]6/21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94939. Cu, Cu ion照射120keV, 0.4K., [1994年]6/21.

アイテム

資料番号: L-94939

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu ion照射120keV. (条件・倍率等)0.4K.

(備考)マップ.

日付: [1994年]6/21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94940. Cu, Cu ion照射120keV, 0.4K., [1994年]6/21.

アイテム

資料番号: L-94940

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu ion照射120keV. (条件・倍率等)0.4K.

(備考)マップ.

日付: [1994年]6/21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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