メインコンテンツへスキップ

電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95532. Al, BF, 30K., [1994年]7/20.

 アイテム
資料番号: L-95532
範囲と内容

(試料)Al. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

(備考)α +3.7黒4(340). 日付元記載「7/20」. 実験者元記載「桐谷 高木」.

日付: [1994年]7/20.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95543. Fe, He ion照射, BF, 30K., [1994年]7/29.

 アイテム
資料番号: L-95543
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)日付元記載「7/29」. 実験者元記載「下村」.

日付: [1994年]7/29.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95555. Au, He ion照射2MeV, 200sec, DF, 50K., [1994年]8/1.

 アイテム
資料番号: L-95555
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)He ion照射2MeV. (照射量)200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

(備考)α 30.8黒0(1409.

日付: [1994年]8/1.