メインコンテンツへスキップ

電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97383. Si, DF, 100K., [1994年]11/8.

 アイテム
資料番号: L-97383
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Heat treated Si 600℃x96h∔900℃x24h. 日付元記載「11/8」. 実験者元記載「サトウ」.

日付: [1994年]11/8.