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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98350. Ni, HVEMe-irr., BF, 50K., [1994年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-98350
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)HVEMe-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

(備考)relationship of loop&stress. 日付元記載「12/13」. 実験者元記載「河内」.

日付: [1994年]12/13.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98368. Si, DF, 10K., [1994年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-98368
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

(備考)Heat-treated 24-2日付元記載「12/13」. 実験者元記載「サトウ」.

日付: [1994年]12/13.