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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98863. Ni, HVEM,e-irr, ≒300, BF, 30K., [1994年]12/21.

 アイテム
資料番号: L-98863
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)HVEM,e-irr. (照射温度)≒300. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s>0.

(備考)under stress. 日付元記載「12/21」. 実験者元記載「河内 Ni →霜島 Au →河内 Ni」.

日付: [1994年]12/21.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98878. Ni, HVEM,e-irr, ≒300, BF, 20K., [1994年]12/21.

 アイテム
資料番号: L-98878
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)HVEM,e-irr. (照射温度)≒300. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s>0.

(備考)under stress.

日付: [1994年]12/21.