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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98889. Ni-2Cu, A133, JMTR, 400℃, BF, 20K., [1994年12月21日.]

 アイテム
資料番号: L-98889
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A133. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s>0.

日付: [1994年12月21日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98891. Ni-2Cu, A133, JMTR, 400℃, BF, 20K., [1994年12月21日.]

 アイテム
資料番号: L-98891
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A133. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)near 100. (ブラック条件からのずれs)s>0.

(備考)thick part.

日付: [1994年12月21日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98945. V, Cu(120keV), 多分1000s, DF, 100K., [1994年12月21日.]

 アイテム
資料番号: L-98945
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cu(120keV). (照射量)多分1000s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=3.

(備考)α.

日付: [1994年12月21日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98950. V, Cu(120keV), BF, 100K., [1994年12月21日.]

 アイテム
資料番号: L-98950
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cu(120keV). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.5+α.

(備考)α.

日付: [1994年12月21日.]