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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100480. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100480
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)日付元記載「2/5」.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100481. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100481
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)　＋Δ.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100482. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, BF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100482
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100483. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100483
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100484. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100484
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別視野.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100485. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100485
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100486. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100486
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100487. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, BF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100487
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100488. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100488
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100489. Ni, e-irr, DF, 37K., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100489
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K.

(備考)α　＋15.5赤2（320）　area　A. 日付元記載「2月5日」. 実験者元記載「桐谷 松本」.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100490. Ni, e-irr, DF, 37K., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100490
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K.

(備考)α　area　A.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100491. Ni, e-irr, ED., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100491
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100492. Ni, e-irr, ED., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100492
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100493. Ni, e-irr, DF., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100493
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　＋11.8黒5（0）　Area　A.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100494. Ni, e-irr, ED., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100494
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100495. Ni, e-irr, DF., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100495
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α＋15.5赤4（140）　area　A.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100496. Ni, e-irr, ED., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100496
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100497. Ni, e-irr, DF., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100497
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α　area　B.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100498. Ni, e-irr, DF., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100498
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　＋13.0黒5.5（240）　area　B　.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100499. Ni, e-irr, DF., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100499
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　area　B.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100500. Ni, e-irr, ED., [1995年]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100500
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1995年]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100501. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100501
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)日付元記載「'94 2月5日」（「'95 2月5日」の誤りであると考えられる）.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100502. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100502
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100503. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100503
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100504. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100504
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別視野.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100505. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100505
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100506. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, BF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100506
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100507. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100507
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100508. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100508
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別視野.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100509. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100509
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100510. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100510
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100511. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, BF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100511
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100512. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100512
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100513. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100513
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別視野.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100514. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

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資料番号: L-100514
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100515. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100515
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100516. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, BF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100516
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100517. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100517
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100518. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 50K., [19]'94 2月5日.

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資料番号: L-100518
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100519. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100519
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別視野.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100520. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, BF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100520
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100521. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 50K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100521
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100522. Ag, R601, RTNS-IIlast, RT, SS, DF., [1995]2月5日.

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資料番号: L-100522
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R601. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)日付元記載「2月5日」.

日付: [1995]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100523. Ag, R601, RTNS-IIlast, RT, SS, DF., [1995]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100523
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R601. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100524. Ag, R601, RTNS-IIlast, RT, SS, DF., [1995]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100524
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R601. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100525. Ag, R601, RTNS-IIlast, RT, SS, BF., [1995]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100525
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R601. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1995]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100526. Ag, R601, RTNS-IIlast, RT, SS, DF., [1995]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100526
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R601. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100527. Ag, R601, RTNS-IIlast, RT, SS, DF., [1995]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100527
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R601. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)別視野.

日付: [1995]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100528. Ag, R601, RTNS-IIlast, RT, SS, DF., [1995]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100528
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R601. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100529. Ag, R601, RTNS-IIlast, RT, SS, DF., [1995]2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100529
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R601. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995]2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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