電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101468. Ni, Heイオン照射, 100℃, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101468

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101469. Ni, Heイオン照射, 100℃, 7200sec, BF, 50K., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101469

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101470. Ni, Heイオン照射, 100℃, 7200sec, ED., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101470

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101471. Ni, Heイオン照射, 100℃, 7200sec, DF, 50K., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101471

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　B35.5℃　B03,180　（110）.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101472. Ni, Heイオン照射, 100℃, 7200sec, BF, 50K., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101472

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101473. Ni, Heイオン照射, 100℃, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101473

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101474. Ni, Heイオン照射, 100℃, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101474

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101475. Ni, Heイオン照射, 100℃, 7200sec, ED., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101475

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　B27.5　B3,80　（110）.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101476. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101476

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101477. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101477

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101478. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, ED., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101478

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)（100）.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101479. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, ED., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101479

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)（110）.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101480. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 50K., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101480

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101481. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101481

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101482. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101482

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101483. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 50K., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101483

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101484. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 50K., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101484

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101485. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101485

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)失敗.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101486. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101486

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101487. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101487

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101488. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 50K., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101488

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101489. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101489

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec.

(備考)B27.5　B18.90.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101490. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101490

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)おまけ.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101491. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 50K., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101491

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101492. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 50K., [1995年]3/16.

アイテム

資料番号: L-101492

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]3/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101493. Cu, Cuイオン照射60keV, RT, 240sec, DF., [1995年]3/17.

アイテム

資料番号: L-101493

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (照射温度)RT. (照射量)240sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)12/12　irr分　再obs.　C ＋6黒24（200）. 日付元記載「3/17」. 実験者元記載「加藤よ」.

日付: [1995年]3/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101494. Cu, Cuイオン照射60keV, RT, 240sec, DF., [1995年]3/17.

アイテム

資料番号: L-101494

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (照射温度)RT. (照射量)240sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)α.

日付: [1995年]3/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101495. Cu, Cuイオン照射60keV, RT, 240sec, ED., [1995年]3/17.

アイテム

資料番号: L-101495

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (照射温度)RT. (照射量)240sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1995年]3/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101496. Cu, Cuイオン照射60keV, RT, 240sec, BF., [1995年]3/17.

アイテム

資料番号: L-101496

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (照射温度)RT. (照射量)240sec. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

(備考)α.

日付: [1995年]3/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101497. Cu, Cuイオン照射60keV, RT, 240sec, DF., [1995年]3/17.

アイテム

資料番号: L-101497

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (照射温度)RT. (照射量)240sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)β　＋7黒18(100).

日付: [1995年]3/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101498. Cu, Cuイオン照射60keV, RT, 240sec, DF., [1995年]3/17.

アイテム

資料番号: L-101498

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (照射温度)RT. (照射量)240sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)β.

日付: [1995年]3/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101499. Cu, Cuイオン照射60keV, RT, 240sec, ED., [1995年]3/17.

アイテム

資料番号: L-101499

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (照射温度)RT. (照射量)240sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1995年]3/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101500. Cu, Cuイオン照射60keV, RT, 240sec, BF., [1995年]3/17.

アイテム

資料番号: L-101500

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (照射温度)RT. (照射量)240sec. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

(備考)β.

日付: [1995年]3/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101501. Cu, Cuイオン照射60keV, RT, 240sec, DF., [1995年]3/17.

アイテム

資料番号: L-101501

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (照射温度)RT. (照射量)240sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]3/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101502. Cu, Cuイオン照射60keV, RT, 240sec, DF., [1995年]3/17.

アイテム

資料番号: L-101502

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (照射温度)RT. (照射量)240sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5-Δ.

(備考)D.

日付: [1995年]3/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101503. Cu, Cuイオン照射60keV, RT, 240sec, ED., [1995年]3/17.

アイテム

資料番号: L-101503

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (照射温度)RT. (照射量)240sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]3/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101504. Cu, Cuイオン照射60keV, RT, 240sec, BF., [1995年]3/17.

アイテム

資料番号: L-101504

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (照射温度)RT. (照射量)240sec. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]3/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101505. Cu, Cuイオン照射60keV, RT, 240sec, BF., [1995年]3/17.

アイテム

資料番号: L-101505

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (照射温度)RT. (照射量)240sec. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

日付: [1995年]3/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101506. Cu, Cuイオン照射60keV, RT, 240sec, DF., [1995年]3/17.

アイテム

資料番号: L-101506

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (照射温度)RT. (照射量)240sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]3/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101507. Cu, Cuイオン照射60keV, RT, 240sec, DF., [1995年]3/17.

アイテム

資料番号: L-101507

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (照射温度)RT. (照射量)240sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5＋Δ.

(備考)E.

日付: [1995年]3/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101508. Cu, Cuイオン照射60keV, RT, 240sec, ED., [1995年]3/17.

アイテム

資料番号: L-101508

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (照射温度)RT. (照射量)240sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]3/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101509. Cu, Cuイオン照射60keV, RT, 240sec, BF., [1995年]3/17.

アイテム

資料番号: L-101509

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (照射温度)RT. (照射量)240sec. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

日付: [1995年]3/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101510. Cu, Cuイオン照射60keV, RT, 240sec, DF., [1995年]3/17.

アイテム

資料番号: L-101510

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (照射温度)RT. (照射量)240sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]3/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101511. Cu, Cuイオン照射60keV, RT, 240sec, DF., [1995年]3/17.

アイテム

資料番号: L-101511

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (照射温度)RT. (照射量)240sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]3/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101512. Cu, Cuイオン照射120keV, TR, DF., [1995年]3/18.

アイテム

資料番号: L-101512

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射温度)TR. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)94.12.14照射分　α＋22赤12（250）. 日付元記載「3/18」. 実験者元記載「加藤よ」.

日付: [1995年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101513. Cu, Cuイオン照射121keV, TR, DF., [1995年]3/18.

アイテム

資料番号: L-101513

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射121keV. (照射温度)TR. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5＋Δ.

(備考)α.

日付: [1995年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101514. Cu, Cuイオン照射122keV, TR, ED., [1995年]3/18.

アイテム

資料番号: L-101514

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射122keV. (照射温度)TR. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1995年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101515. Cu, Cuイオン照射123keV, TR, DF., [1995年]3/18.

アイテム

資料番号: L-101515

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射123keV. (照射温度)TR. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1995年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101516. Cu, Cuイオン照射124keV, TR, DF., [1995年]3/18.

アイテム

資料番号: L-101516

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射124keV. (照射温度)TR. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝2＋Δ.

(備考)α.

日付: [1995年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101517. Cu, Cuイオン照射125keV, TR, DF., [1995年]3/18.

アイテム

資料番号: L-101517

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射125keV. (照射温度)TR. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)β　＋23赤6（40）.

日付: [1995年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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