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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103132. ？, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1995年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-103132
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103133. ？, JMTR, 200℃, DF, 150K., [1995年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-103133
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

(備考)s＝5.

日付: [1995年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103134. ？, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1995年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-103134
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103138. Fe, Heイオン照射20000, BF, 100K., [1995年]10/5.

 アイテム
資料番号: L-103138
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)Heイオン照射20000. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)n＝1　α（＋3.0、0,00-）. 日付元記載「10/5」.

日付: [1995年]10/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103139. Fe, Heイオン照射20000, BF., [1995年]10/5.

 アイテム
資料番号: L-103139
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)Heイオン照射20000. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)n＝2　α.

日付: [1995年]10/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103140. Fe, Heイオン照射20000, BF., [1995年]10/5.

 アイテム
資料番号: L-103140
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)Heイオン照射20000. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)n＝3　α.

日付: [1995年]10/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103141. Fe, Heイオン照射20000, DF., [1995年]10/5.

 アイテム
資料番号: L-103141
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)Heイオン照射20000. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)n＝1　α.

日付: [1995年]10/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103142. Fe, Heイオン照射20000, DF., [1995年]10/5.

 アイテム
資料番号: L-103142
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)Heイオン照射20000. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)n＝2　α.

日付: [1995年]10/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103143. Fe, Heイオン照射20000, DF., [1995年]10/5.

 アイテム
資料番号: L-103143
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)Heイオン照射20000. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)n＝3　α.

日付: [1995年]10/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103144. Fe, Heイオン照射20000, DF., [1995年]10/5.

 アイテム
資料番号: L-103144
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)Heイオン照射20000. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)n＝4　α.

日付: [1995年]10/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103145. Fe, Heイオン照射20000, ED., [1995年]10/5.

 アイテム
資料番号: L-103145
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)Heイオン照射20000. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103146. Fe, Heイオン照射20000, DF., [1995年]10/5.

 アイテム
資料番号: L-103146
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)Heイオン照射20000. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)失敗.

日付: [1995年]10/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103147. Fe, Heイオン照射20000, DF., [1995年]10/5.

 アイテム
資料番号: L-103147
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)Heイオン照射20000. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)n-5　α.

日付: [1995年]10/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103148. Fe, Heイオン照射20000, BF., [1995年]10/5.

 アイテム
資料番号: L-103148
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)Heイオン照射20000. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)n＝1　β（＋1.0、6、60黒）.

日付: [1995年]10/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103149. Fe, Heイオン照射20000, DF., [1995年]10/5.

 アイテム
資料番号: L-103149
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)Heイオン照射20000. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)n＝1　β.

日付: [1995年]10/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103150. Fe, Heイオン照射20000, DF., [1995年]10/5.

 アイテム
資料番号: L-103150
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)Heイオン照射20000. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)n＝？　β.

日付: [1995年]10/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103151. Fe, Heイオン照射20000, DF., [1995年]10/5.

 アイテム
資料番号: L-103151
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)Heイオン照射20000. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)n＝2　β.

日付: [1995年]10/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103152. Fe, Heイオン照射20000, DF., [1995年]10/5.

 アイテム
資料番号: L-103152
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)Heイオン照射20000. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)n＝3～5　β.

日付: [1995年]10/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103153. ？, 200℃, BF, 50K., [1995年]10/5.

 アイテム
資料番号: L-103153
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)400℃　2hr　anneal. 日付元記載「10/5」. 実験者元記載「堀木」.

日付: [1995年]10/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103154. ？, 200℃, DF, 150K., [1995年]10/5.

 アイテム
資料番号: L-103154
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝7.

日付: [1995年]10/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103155. ？, 200℃, DF, 100K., [1995年]10/5.

 アイテム
資料番号: L-103155
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝7.

日付: [1995年]10/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103156. ？, 200℃, DF, 150K., [1995年]10/5.

 アイテム
資料番号: L-103156
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1995年]10/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103157. ？, 200℃, DF, 100K., [1995年]10/5.

 アイテム
資料番号: L-103157
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1995年]10/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103158. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103158
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)R＝7°B15°＋260/360ｘ3. 日付元記載「10/7」.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103159. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103159
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103160. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103160
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103161. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103161
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103162. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103162
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)R＝1.5°＋180/360ｘ3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103163. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, ED., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103163
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103164. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103164
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103165. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103165
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103166. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103166
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)R1.5　B12＋120/360ｘ3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103167. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103167
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103168. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103168
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bエリア.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103169. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103169
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)Bエリア.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103170. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103170
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103171. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103171
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)R＝27　B180/360ｘ3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103172. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103172
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103173. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103173
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103174. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

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資料番号: L-103174
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103175. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 50K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103175
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)エリアA.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103176. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 50K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103176
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)エリアB.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103177. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, ED., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103177
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103178. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103178
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)R 26.5　B3°　40/360ｘ3. 日付元記載「10/7」.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103179. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103179
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103180. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103180
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103181. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103181
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103182. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103182
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103183. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103183
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103184. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103184
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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