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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103436. 30K., [1995年10月24日.]

 アイテム
資料番号: L-103436
範囲と内容

(条件・倍率等)30K.

日付: [1995年10月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103437. 30K., [1995年10月24日.]

 アイテム
資料番号: L-103437
範囲と内容

(条件・倍率等)30K.

日付: [1995年10月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103438. 30K., [1995年10月24日.]

 アイテム
資料番号: L-103438
範囲と内容

(条件・倍率等)30K.

日付: [1995年10月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103442. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103442
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)He＋→（110）　see→（110）R45　R3°＋240/360ｘ3　edge. 日付元記載「10/25」. 実験者元記載「前野 克弘」.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103443. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103443
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)奥.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103444. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103444
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103445. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103445
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103446. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103446
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103447. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103447
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103448. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, BF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103448
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103449. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, BF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103449
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)奥　.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103450. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103450
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103451. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103451
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)奥　R8.5　B0°＋60/360ｘ3.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103452. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103452
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103453. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, BF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103453
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)奥.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103454. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103454
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103455. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103455
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103456. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, ED., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103456
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103457. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 50K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103457
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)失敗.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103458. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 50K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103458
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103459. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 50K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103459
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)少し下の方.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103460. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103460
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B27°B9°200/360ｘ3.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103461. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103461
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103462. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, BF., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103462
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103463. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103463
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103464. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103464
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B23　B6°160/360ｘ3.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103465. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103465
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103466. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, BF., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103466
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103467. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103467
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103468. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, ED., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103468
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103469. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF, 50K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103469
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103470. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF, 59K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103470
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)59K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103471. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103471
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103472. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF, 100K., [1995年10月25日.]

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資料番号: L-103472
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)edge　A　場所　α　18°R6°＋200/360ｘ3.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103473. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF, 100K., [1995年10月25日.]

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資料番号: L-103473
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)B　　　　場所　α.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103474. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF, 100K., [1995年10月25日.]

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資料番号: L-103474
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)B　α.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103475. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, BF, 100K., [1995年10月25日.]

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資料番号: L-103475
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)B　α.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103476. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF., [1995年10月25日.]

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資料番号: L-103476
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)B　α.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103477. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF., [1995年10月25日.]

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資料番号: L-103477
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)C　α.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103478. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF., [1995年10月25日.]

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資料番号: L-103478
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)C　α.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103479. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, BF., [1995年10月25日.]

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資料番号: L-103479
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B　β.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103480. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103480
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　β.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103481. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, BF., [1995年10月25日.]

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資料番号: L-103481
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B　β.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103482. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, BF., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103482
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B　β.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103483. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103483
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103484. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103484
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103485. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, ED., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103485
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103486. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF, 50K., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103486
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103487. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103487
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103502. ？, BF, 50K., [1995年]10/27.

 アイテム
資料番号: L-103502
範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「10/27」. 実験者元記載「堀木」.

日付: [1995年]10/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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