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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103764. Cu, JMTR多分割, BF, 50K., [1995年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-103764
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=小.

(備考)stereo 1 -17°黒7.5°(240).

日付: [1995年11月13日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103791. SUS, e-照射, BF, 50K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103791
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)e-照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

(備考)日付元記載「11/18」. 実験者元記載「堀木」.

日付: [1995年]11/18.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103792. SUS, e-照射, DF, 100K., [1995年]11/18.

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資料番号: L-103792
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)e-照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.

(備考)n=7 欠陥多.

日付: [1995年]11/18.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103793. SUS, e-照射, DF, 100K., [1995年]11/18.

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資料番号: L-103793
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)e-照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.

(備考)欠陥小.

日付: [1995年]11/18.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103807. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

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資料番号: L-103807
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)AαR27 R21 220/360x3 edge. 日付元記載「11/18」.

日付: [1995年]11/18.