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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103814. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103814
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bα　おく.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103815. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103815
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bβ　R22　R21.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103816. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103816
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103817. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103817
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103818. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103818
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103819. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103819
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Aβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103820. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103820
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Aβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103821. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, BF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103821
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Aβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103822. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103822
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Aβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103823. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, ED., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103823
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103824. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 50K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103824
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103825. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 50K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103825
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103826. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103826
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B12°　R9°　220/360ｘ3　A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103827. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103827
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103828. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103828
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103829. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103829
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103830. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103830
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103831. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103831
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103832. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103832
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103833. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103833
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103834. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103834
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103835. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103835
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103836. Ni, Heイオン照射, 200℃, ED., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103836
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103837. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103837
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B8.5　R12°　B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103838. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103838
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103839. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103839
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103840. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103840
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103841. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103841
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103842. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103842
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103843. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103843
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103844. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103844
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103845. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103845
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103846. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103846
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103847. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103847
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)穴B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103848. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年11月18日.]

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資料番号: L-103848
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103851. Heイオン照射, 550K, DF, 50K., [1995年11月18日.]

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資料番号: L-103851
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)①　8°20’厚さ用. 実験者元記載「岡田」.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103852. Heイオン照射, 550K, DF, 50K., [1995年11月18日.]

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資料番号: L-103852
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)①　2戻し.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103853. Heイオン照射, 550K, BF, 50K., [1995年11月18日.]

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資料番号: L-103853
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)①　2送り.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103854. Heイオン照射, 550K, DF, 50K., [1995年11月18日.]

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資料番号: L-103854
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103855. Heイオン照射, 550K, DF, 50K., [1995年11月18日.]

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資料番号: L-103855
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103856. Heイオン照射, 550K, BF, 50K., [1995年11月18日.]

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資料番号: L-103856
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)②.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103857. Heイオン照射, 550K, DF, 100K., [1995年11月18日.]

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資料番号: L-103857
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)②.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103858. Heイオン照射, 550K, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103858
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)②.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103859. Heイオン照射, 550K, ED., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103859
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103860. Heイオン照射, 550K, DF, 50K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103860
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)③　482　-076　厚さ.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103861. Heイオン照射, 550K, DF, 50K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103861
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)③.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103862. Heイオン照射, 550K, BF, 50K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103862
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)③.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103863. Heイオン照射, 550K, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103863
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)③.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103864. Heイオン照射, 550K, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103864
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)③.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103865. Heイオン照射, 550K, ED., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103865
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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