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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104121. Au, ED., [19]'95/12/1 (金).

 アイテム
資料番号: L-104121
範囲と内容

(試料)Au. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]'95/12/1 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104122. Au, BF., [19]'95/12/1 (金).

 アイテム
資料番号: L-104122
範囲と内容

(試料)Au. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [19]'95/12/1 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104123. Au, DF, 50K., [19]'95/12/1 (金).

 アイテム
資料番号: L-104123
範囲と内容

(試料)Au. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]'95/12/1 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104124. Au, DF., [19]'95/12/1 (金).

 アイテム
資料番号: L-104124
範囲と内容

(試料)Au. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [19]'95/12/1 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104125. Au, DF., [19]'95/12/1 (金).

 アイテム
資料番号: L-104125
範囲と内容

(試料)Au. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [19]'95/12/1 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104126. Au, ED., [19]'95/12/1 (金).

 アイテム
資料番号: L-104126
範囲と内容

(試料)Au. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]'95/12/1 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104127. Au, BF., [19]'95/12/1 (金).

 アイテム
資料番号: L-104127
範囲と内容

(試料)Au. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [19]'95/12/1 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104128. Fe, DF, 100K., [1995年]12/1.

 アイテム
資料番号: L-104128
範囲と内容

(試料)Fe. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Liq.N2 deformation-＞700℃10min Anneal　Area A. 日付元記載「12/1」.

日付: [1995年]12/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104129. Fe, DF, 100K., [1995年]12/1.

 アイテム
資料番号: L-104129
範囲と内容

(試料)Fe. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area A.

日付: [1995年]12/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104130. Fe, DF, 100K., [1995年]12/1.

 アイテム
資料番号: L-104130
範囲と内容

(試料)Fe. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年]12/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104131. Fe, DF, 100K., [1995年]12/1.

 アイテム
資料番号: L-104131
範囲と内容

(試料)Fe. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area A　約60℃.

日付: [1995年]12/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104132. Fe, DF, 100K., [1995年]12/1.

 アイテム
資料番号: L-104132
範囲と内容

(試料)Fe. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年]12/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104133. Fe, DF, 100K., [1995年]12/1.

 アイテム
資料番号: L-104133
範囲と内容

(試料)Fe. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area B　約175℃.

日付: [1995年]12/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104134. Fe, DF, 100K., [1995年]12/1.

 アイテム
資料番号: L-104134
範囲と内容

(試料)Fe. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年]12/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104135. Fe, DF, 100K., [1995年]12/1.

 アイテム
資料番号: L-104135
範囲と内容

(試料)Fe. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]12/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104136. Fe, DF, 100K., [1995年]12/1.

 アイテム
資料番号: L-104136
範囲と内容

(試料)Fe. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]12/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104137. Fe, DF, 100K., [1995年]12/1.

 アイテム
資料番号: L-104137
範囲と内容

(試料)Fe. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]12/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104138. Fe, DF, 100K., [1995年]12/1.

 アイテム
資料番号: L-104138
範囲と内容

(試料)Fe. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]12/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104139. Fe, DF, 100K., [1995年]12/1.

 アイテム
資料番号: L-104139
範囲と内容

(試料)Fe. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]12/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104140. Fe, ED., [1995年]12/1.

 アイテム
資料番号: L-104140
範囲と内容

(試料)Fe. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]12/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104141. Fe, ED., [1995年]12/1.

 アイテム
資料番号: L-104141
範囲と内容

(試料)Fe. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]12/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104142. Fe, ED., [1995年]12/1.

 アイテム
資料番号: L-104142
範囲と内容

(試料)Fe. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]12/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104143. Fe, ED., [1995年]12/1.

 アイテム
資料番号: L-104143
範囲と内容

(試料)Fe. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]12/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104144. Fe, ED., [1995年]12/1.

 アイテム
資料番号: L-104144
範囲と内容

(試料)Fe. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]12/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104145. Fe., [1995年]12/1.

 アイテム
資料番号: L-104145
範囲と内容

(試料)Fe.

(備考)失敗.

日付: [1995年]12/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104146. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104146
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge　33.5　R12°20/360x3. 日付元記載「12/2」.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104147. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104147
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104148. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104148
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)おく.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104149. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104149
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)edge.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104150. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 50K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104150
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104151. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104151
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge　逆サイド.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104152. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104152
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)おく.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104153. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 50K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104153
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)edge　B36°　036/360x3.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104154. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 50K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104154
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)おく.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104155. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104155
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104156. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104156
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104157. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104157
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bおく　B29°　3°100/360x3.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104158. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104158
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Aおく.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104159. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104159
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104160. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104160
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104161. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, 100K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104161
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104162. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, 100K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104162
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104163. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, BF, 100K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104163
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104164. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, BF, 100K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104164
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104165. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, BF, 100K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104165
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104166. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104166
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104167. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, BF, 50K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104167
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)α　同じ場所　B16B6＋160/360x3.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104168. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, BF, 50K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104168
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　同じ場所.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104169. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, BF, 50K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104169
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　同じ場所.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104170. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104170
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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