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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105245. SUS, e-irr, BF, 100K., [1996年]3/5.

 アイテム
資料番号: L-105245
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

(備考)tilt+2、赤(0-5,140). 日付元記載「3/5」. 実験者元記載「堀木」.

日付: [1996年]3/5.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105260. V, Heイオン照射, BF., [1996年3月7日.]

 アイテム
資料番号: L-105260
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)Area A n=3 -g. 日付元記載「3/7」. 実験者元記載「森」.

日付: [1996年3月7日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105374. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]3/12.

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資料番号: L-105374
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

(備考)日付元記載「3/12」. 実験者元記載「堀木」.

日付: [1996年]3/12.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105377. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]3/12.

 アイテム
資料番号: L-105377
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.

日付: [1996年]3/12.