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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88563. Cu-0.3Sn, T82, RASREF, DF, 100K., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88563
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T82. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88564. Cu-0.3Sn, T82, RASREF, ED., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88564
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T82. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　＋20赤6（340）.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88565. Cu-0.3Sn, T82, RASREF, DF., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88565
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T82. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88566. Cu-0.3Sn, T82, RASREF, DF., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88566
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T82. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88567. Cu-0.3Sn, T82, RASREF, DF., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88567
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T82. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88568. Cu-0.3Ni, T42, RASREF, DF., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88568
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T42. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)S＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88569. Cu-0.3Ni, T42, RASREF, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88569
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)α　＋21赤0（340）　α　-36赤8（140）. 実験者元記載「河内」.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88570. Cu-0.3Ni, T42, RASREF, BF., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88570
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)S＞0.

(備考)α.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88571. Cu-0.3Ni, T42, RASREF, DF., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88571
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)失敗.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88572. Cu-0.3Ni, T42, RASREF, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88572
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)β　-33赤18（290）.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88573. Cu-0.3Ni, T42, RASREF, BF., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88573
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88574. Cu-0.3Ni, T42, RASREF, DF., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88574
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88575. Cu-0.3Ni, T42, RASREF, ED., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88575
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88577. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88577
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)失敗. 日付元記載「7/10 (Sat.)」. 実験者元記載「Y Hayashi」.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88578. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88578
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88579. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88579
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88580. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88580
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88581. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88581
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88582. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88582
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88583. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88583
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88584. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88584
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88585. Ni, T42, He Ion照射, ED., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88585
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88586. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88586
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88587. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88587
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Just　focus.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88588. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88588
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)over　focus.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88589. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88589
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Under focus.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88590. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88590
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88591. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88591
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88592. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88592
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)90の更に右側.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88593. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88593
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)90の更に右側.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88594. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88594
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88595. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88595
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88596. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88596
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88597. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88597
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Just　focus.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88598. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88598
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88599. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88599
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)over　focus.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88600. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88600
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Under focus.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88601. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88601
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88602. Ni, T42, He Ion照射, ED., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88602
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88603. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年7月10日.]

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資料番号: L-88603
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)実験者元記載「Y Hayashi」.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88604. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年7月10日.]

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資料番号: L-88604
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88605. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年7月10日.]

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資料番号: L-88605
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88606. Ni, T42, He Ion照射, Ed., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88606
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)Ed.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88607. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88607
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88608. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88608
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88609. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88609
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88610. Ni, T42, He Ion照射, ED., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88610
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88611. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88611
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88612. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88612
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　3青22（250）.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88613. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88613
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Just　focus　　α.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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