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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89634. Cu, T08, LAMPF, 7D, BF, 50K., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89634
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)Disl.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89635. Cu, T08, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89635
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)Disl.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89636. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89636
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89637. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89637
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89638. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89638
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89639. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89639
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89640. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89640
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89641. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89641
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89642. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89642
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)失敗.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89643. Cu, T08, LAMPF, 7D, BF, 30K., [1993年10月3日.]

 アイテム
資料番号: L-89643
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)Area A1.

日付: [1993年10月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89644. Cu, T08, LAMPF, 7D, ED., [1993年10月3日.]

 アイテム
資料番号: L-89644
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年10月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89645. Cu, T08, LAMPF, 7D, ED., [1993年10月3日.]

 アイテム
資料番号: L-89645
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年10月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89646. Cu, T08, LAMPF, 7D, BF, 30K., [1993年10月3日.]

 アイテム
資料番号: L-89646
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)Area A1.

日付: [1993年10月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[写真] Lシリーズ., [昭和62年(1987) 7月20日〜平成 9年(1997) 7月26日.], [1987-07-20/1997-07-26.]

 サブシリーズ
資料番号: KURNS MIXED 2018/3 / 1 / 2
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [昭和62年(1987) 7月20日〜平成 9年(1997) 7月26日.]; [1987-07-20/1997-07-26.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム).

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