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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

1174 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66675. ？, 20K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66675
範囲と内容

(試料)？. (条件・倍率等)20K.

(備考)＋10.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66676. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66676
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋8.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66677. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66677
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋12.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66678. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66678
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋0.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66679. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66679
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋5.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66680. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66680
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋0.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66681. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66681
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋0やり直し.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66682. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66682
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋5.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66683. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66683
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋8.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66684. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66684
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋10.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66685. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66685
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋12.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66686. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66686
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋15.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66687. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66687
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋15重ねどり.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66688. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66688
範囲と内容

(試料)？.

(備考)X.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66689. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66689
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋0重ねどり.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66706. A-Si, ED., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66706
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)CL82. 実験者元記載「小林」.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66707. A-Si, ED., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66707
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)その1　2s.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66708. A-Si, ED., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66708
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)その1　1.4s.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66709. A-Si, 50K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66709
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)50K.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66710. A-Si, 15K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66710
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)15K.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66711. A-Si, 15K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66711
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)15K.

(備考)その2.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66712. A-Si, 50K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66712
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)50K.

(備考)その2.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66713. A-Si, 50K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66713
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)50K.

(備考)ちょっとずらした.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66714. A-Si, 15K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66714
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)15K.

(備考)その3.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66715. A-Si, 15K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66715
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)15K.

(備考)その3.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66716. A-Si, 50K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66716
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)50K.

(備考)この先.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66717. A-Si, 50K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66717
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)50K.

(備考)その4.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66718. A-Si, ED., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66718
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)その3　2s.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66719. A-Si, ED., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66719
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)その3　1.4s.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66720. A-Si, DF, 50K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66720
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)その3　11s.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66721. A-Si, DF, 50K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66721
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)その3　8s.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66722. A-Si, BF., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66722
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)その3.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66723. A-Si, ED., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66723
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)その3　1s.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105758. V, Cuイオン照射+e-irr, DF., [1996年]4/5.

 アイテム
資料番号: L-105758
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射＋e-irr. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)Area　C　n＝6強. 日付元記載「4/5」. 実験者元記載「森」.

日付: [1996年]4/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105759. V, Cuイオン照射+e-irr., [1996年]4/5.

 アイテム
資料番号: L-105759
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射＋e-irr.

日付: [1996年]4/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105760. V, Cuイオン照射+e-irr., [1996年]4/5.

 アイテム
資料番号: L-105760
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射＋e-irr.

日付: [1996年]4/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105761. V, Heイオン照射+e-irr., [1996年]4/5.

 アイテム
資料番号: L-105761
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射＋e-irr.

(備考)Area D.

日付: [1996年]4/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105762. V, Heイオン照射+e-irr., [1996年]4/5.

 アイテム
資料番号: L-105762
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射＋e-irr.

日付: [1996年]4/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105763. V, Heイオン照射+e-irr., [1996年]4/5.

 アイテム
資料番号: L-105763
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射＋e-irr.

日付: [1996年]4/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105764. Ni., [1996年]4月10日.

 アイテム
資料番号: L-105764
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)空. 日付元記載「4月10日」. 実験者元記載「たけみ」.

日付: [1996年]4月10日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105765. Ni, 50K., [1996年]4月10日.

 アイテム
資料番号: L-105765
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.

(備考)area　A-1.

日付: [1996年]4月10日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105766. Ni, 50K., [1996年]4月10日.

 アイテム
資料番号: L-105766
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.

(備考)area　A-2.

日付: [1996年]4月10日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105767. Ni, 50K., [1996年]4月10日.

 アイテム
資料番号: L-105767
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.

(備考)area　A-3.

日付: [1996年]4月10日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105768. Ni, 50K., [1996年]4月10日.

 アイテム
資料番号: L-105768
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.

日付: [1996年]4月10日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105769. Ni, 50K., [1996年]4月10日.

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資料番号: L-105769
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0　.

(備考)A-1.

日付: [1996年]4月10日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105770. Ni, 50K., [1996年]4月10日.

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資料番号: L-105770
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-2.

日付: [1996年]4月10日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105771. Ni, 50K., [1996年]4月10日.

 アイテム
資料番号: L-105771
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-3.

日付: [1996年]4月10日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105772. Ni, 50K., [1996年]4月10日.

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資料番号: L-105772
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.

(備考)B-1.

日付: [1996年]4月10日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105773. Ni, 50K., [1996年]4月10日.

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資料番号: L-105773
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)50K.

(備考)B-2.

日付: [1996年]4月10日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105774. Ni, ED., [1996年]4月10日.

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資料番号: L-105774
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1996年]4月10日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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