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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

1174 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106202. A-Si, ED., [1996年9月10日.]

 アイテム
資料番号: L-106202
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1996年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106203. A-Si, ED., [1996年9月10日.]

 アイテム
資料番号: L-106203
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1996年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106204. A-Si, 1.5K., [1996年9月10日.]

 アイテム
資料番号: L-106204
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)1.5K.

日付: [1996年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106205. A-Si, 1.5K., [1996年9月10日.]

 アイテム
資料番号: L-106205
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)1.5K.

日付: [1996年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106206. A-Si, ED., [1996年9月10日.]

 アイテム
資料番号: L-106206
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1996年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106207. A-Si, ED., [1996年9月10日.]

 アイテム
資料番号: L-106207
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1996年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106208. A-Si, ED., [1996年9月10日.]

 アイテム
資料番号: L-106208
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1996年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106209. A-Si, ED., [1996年9月10日.]

 アイテム
資料番号: L-106209
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1996年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106210. A-Si, 3.7K., [1996年9月10日.]

 アイテム
資料番号: L-106210
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)3.7K.

日付: [1996年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106211. A-Si, 1.5K., [1996年9月10日.]

 アイテム
資料番号: L-106211
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)1.5K.

日付: [1996年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106212. A-Si, 1.5K., [1996年9月10日.]

 アイテム
資料番号: L-106212
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)1.5K.

日付: [1996年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106213. A-Si, 3.7K., [1996年9月10日.]

 アイテム
資料番号: L-106213
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)3.7K.

日付: [1996年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106214. A-Si, 1.5K., [1996年9月10日.]

 アイテム
資料番号: L-106214
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)1.5K.

日付: [1996年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106215. A-Si, ED., [1996年9月10日.]

 アイテム
資料番号: L-106215
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1996年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106216. A-Si, ED., [1996年9月10日.]

 アイテム
資料番号: L-106216
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1996年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106217. A-Si, ED., [1996年9月10日.]

 アイテム
資料番号: L-106217
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1996年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106218. Ni, e-irr., [1996年]10/2.

 アイテム
資料番号: L-106218
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr.

(備考)e-　10月1日分　空. 日付元記載「10/2」. 実験者元記載「松本」.

日付: [1996年]10/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106219. Ni, e-irr, 50K., [1996年]10/2.

 アイテム
資料番号: L-106219
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)50K.

(備考)Area C　n＝3.5x2.

日付: [1996年]10/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106220. Ni, e-irr, 100K., [1996年]10/2.

 アイテム
資料番号: L-106220
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)100K.

(備考)n＝3.5x2.

日付: [1996年]10/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106221. Ni, e-irr, DF, 50K., [1996年]10/2.

 アイテム
資料番号: L-106221
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1996年]10/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106222. Ni, e-irr, BF, 50K., [1996年]10/2.

 アイテム
資料番号: L-106222
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1996年]10/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106223. Ni, e-irr, 50K., [1996年]10/2.

 アイテム
資料番号: L-106223
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)50K.

(備考)n＝3.5x2.

日付: [1996年]10/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106224. Ni, e-irr, 100K., [1996年]10/2.

 アイテム
資料番号: L-106224
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)100K.

(備考)n＝3.5x2.

日付: [1996年]10/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106225. Ni, e-irr, DF, 50K., [1996年]10/2.

 アイテム
資料番号: L-106225
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1996年]10/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106226. Ni, e-irr, 50K., [1996年]10/2.

 アイテム
資料番号: L-106226
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)50K.

(備考)n＝3.5x2.

日付: [1996年]10/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106227. Ni, e-irr, 100K., [1996年]10/2.

 アイテム
資料番号: L-106227
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)100K.

(備考)n＝3.5x2.

日付: [1996年]10/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106228. Ni, e-irr, DF, 50K., [1996年]10/2.

 アイテム
資料番号: L-106228
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1996年]10/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106229. Ni, e-irr, 50K., [1996年]10/2.

 アイテム
資料番号: L-106229
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)50K.

(備考)n＝3.5x2.

日付: [1996年]10/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106230. Ni, e-irr, 100K., [1996年]10/2.

 アイテム
資料番号: L-106230
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)100K.

(備考)n＝3.5x2.

日付: [1996年]10/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106231. Ni, e-irr, Low　Mag., [1996年]10/2.

 アイテム
資料番号: L-106231
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)Low　Mag.

日付: [1996年]10/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106232. Ni, e-irr, DF, 50K., [1996年]10/2.

 アイテム
資料番号: L-106232
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1996年]10/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106233. Ni, e-irr, 50K., [1996年]10/2.

 アイテム
資料番号: L-106233
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)50K.

日付: [1996年]10/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106234. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.

 アイテム
資料番号: L-106234
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K.

(備考)空. 日付元記載「10月8日」. 実験者元記載「松本 たけみ」.

日付: [1996年]10月8日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106235. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.

 アイテム
資料番号: L-106235
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K.

(備考)A　n＝3.5x2.

日付: [1996年]10月8日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106236. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.

 アイテム
資料番号: L-106236
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1996年]10月8日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106237. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.

 アイテム
資料番号: L-106237
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K.

(備考)B　n＝3.5x2.

日付: [1996年]10月8日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106238. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.

 アイテム
資料番号: L-106238
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K.

(備考)B　n＝3.5x2　露出over.

日付: [1996年]10月8日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106239. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.

 アイテム
資料番号: L-106239
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K.

(備考)B　n＝3.5x2.

日付: [1996年]10月8日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106240. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.

 アイテム
資料番号: L-106240
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1996年]10月8日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106241. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.

 アイテム
資料番号: L-106241
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1996年]10月8日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106242. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.

 アイテム
資料番号: L-106242
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K.

(備考)C　n＝3.5x2.

日付: [1996年]10月8日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106243. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.

 アイテム
資料番号: L-106243
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [1996年]10月8日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106244. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.

 アイテム
資料番号: L-106244
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K.

(備考)D　n＝3.5x2.

日付: [1996年]10月8日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106245. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.

 アイテム
資料番号: L-106245
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K.

(備考)D　n＝3.5x2.

日付: [1996年]10月8日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106246. Ni, e-irr, 73K., [1996年]10月8日.

 アイテム
資料番号: L-106246
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D.

日付: [1996年]10月8日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106247. A-Si（43hr）, ED., [1996年]10/11.

 アイテム
資料番号: L-106247
範囲と内容

(試料)A-Si（43hr）. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)2sec. 日付元記載「10/11」.

日付: [1996年]10/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106248. A-Si（43hr）, ED., [1996年]10/11.

 アイテム
資料番号: L-106248
範囲と内容

(試料)A-Si（43hr）. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)4sec.

日付: [1996年]10/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106249. A-Si（43hr）, 50K., [1996年]10/11.

 アイテム
資料番号: L-106249
範囲と内容

(試料)A-Si（43hr）. (条件・倍率等)50K.

(備考)日付元記載「10/11」. 実験者元記載「小林 由美子」.

日付: [1996年]10/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106250. A-Si（43hr）, 50K., [1996年]10/11.

 アイテム
資料番号: L-106250
範囲と内容

(試料)A-Si（43hr）. (条件・倍率等)50K.

日付: [1996年]10/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106251. A-Si（6hr）, ED., [1996年]10/11.

 アイテム
資料番号: L-106251
範囲と内容

(試料)A-Si（6hr）. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)2s.

日付: [1996年]10/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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