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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

1174 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105928. V, Heイオン照射, 1000s, DF., [1996年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-105928
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)1000s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α下9赤0（80）n＝6.

日付: [1996年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105929. Cu, HVEM, 20K., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105929
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM. (条件・倍率等)20K.

(備考)7/3のobs.spot　size　2　①α　x赤0.2ｙ黒9＋30/120. 日付元記載「'96/7/5 (金)」.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105930. Cu, HVEM., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105930
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM.

(備考)①'α.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105931. Cu, HVEM., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105931
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM.

(備考)②α.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105932. Cu, HVEM., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105932
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM.

(備考)⑤α.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105933. Cu, HVEM., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105933
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM.

(備考)⑦α.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105934. Cu, HVEM., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105934
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM.

(備考)⑧α.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105935. Cu, HVEM., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105935
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM.

(備考)⑧'α　X.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105936. Cu, HVEM, ED., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105936
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105937. Cu, HVEM., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105937
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM.

(備考)①βｘ黒6.2　ｙ黒12＋60/120.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105938. Cu, HVEM., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105938
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM.

(備考)①'β.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105939. Cu, HVEM., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105939
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM.

(備考)①'β.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105940. Cu, HVEM., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105940
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM.

(備考)②β.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105941. Cu, HVEM., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105941
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM.

(備考)⑤β.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105942. Cu, HVEM., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105942
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM.

(備考)⑦β.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105943. Cu, HVEM., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105943
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM.

(備考)⑧β.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105944. Cu, HVEM, ED., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105944
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)①β.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105945. Cu, HVEM., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105945
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM.

(備考)①s＝0.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105946. Cu, HVEM., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105946
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM.

(備考)①'s＝0.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105947. Cu, HVEM., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105947
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM.

(備考)②s＝0.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105948. Cu, HVEM., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105948
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM.

(備考)⑤s＝0.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105949. Cu, HVEM., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105949
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM.

(備考)⑦s＝0.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105950. Cu, HVEM., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105950
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM.

(備考)⑧s＝0.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105951. Cu, HVEM, ED., [19]'96/7/5 (金).

 アイテム
資料番号: L-105951
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)non　tilt　ED.

日付: [19]'96/7/5 (金).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105952. V, Specimen④, Heイオン照射, 300sec, DF., [1996年]7/11.

 アイテム
資料番号: L-105952
範囲と内容

(試料)V. (試料番号)Specimen④. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)n＝6. 日付元記載「7/11」. 実験者元記載「森」.

日付: [1996年]7/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105953. V, Specimen④, Heイオン照射, 300sec, DF., [1996年]7/11.

 アイテム
資料番号: L-105953
範囲と内容

(試料)V. (試料番号)Specimen④. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)n＝6.

日付: [1996年]7/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105954. V, Specimen④, Heイオン照射, 300sec, DF., [1996年]7/11.

 アイテム
資料番号: L-105954
範囲と内容

(試料)V. (試料番号)Specimen④. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)n＝6.

日付: [1996年]7/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105955. JPCAM, T23, JMTR温度変動, 200/400℃., [1996年]8/3.

 アイテム
資料番号: L-105955
範囲と内容

(試料)JPCAM. (EM/D3)D3. (試料番号)T23. (照射条件)JMTR温度変動. (照射温度)200/400℃.

(備考)小欠陥パラパラあり. 日付元記載「8/3」. 実験者元記載「堀木」.

日付: [1996年]8/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105956. JPCAM, T24, JMTR温度変動, 200/400℃., [1996年]8/3.

 アイテム
資料番号: L-105956
範囲と内容

(試料)JPCAM. (EM/D3)D3. (試料番号)T24. (照射条件)JMTR温度変動. (照射温度)200/400℃.

(備考)欠陥ない.

日付: [1996年]8/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105957. JPCAM, T23, JMTR温度変動, 200/400℃., [1996年]8/3.

 アイテム
資料番号: L-105957
範囲と内容

(試料)JPCAM. (EM/D3)EM. (試料番号)T23. (照射条件)JMTR温度変動. (照射温度)200/400℃.

(備考)小欠陥パラパラきれい.

日付: [1996年]8/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105958. JPCAM, T24, JMTR温度変動, 200/400℃., [1996年]8/3.

 アイテム
資料番号: L-105958
範囲と内容

(試料)JPCAM. (EM/D3)EM. (試料番号)T24. (照射条件)JMTR温度変動. (照射温度)200/400℃.

(備考)大きいゴミ欠陥のまわりに小欠陥多数　ゴミ多い　うすい.

日付: [1996年]8/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105959. JPCAM, T27, JMTR温度変動, 300/500℃., [1996年]8/3.

 アイテム
資料番号: L-105959
範囲と内容

(試料)JPCAM. (EM/D3)D3. (試料番号)T27. (照射条件)JMTR温度変動. (照射温度)300/500℃.

(備考)欠陥殆どない　うすい　仕上げ研磨.

日付: [1996年]8/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105960. JPCAM, T28, JMTR温度変動, 300/500℃., [1996年]8/3.

 アイテム
資料番号: L-105960
範囲と内容

(試料)JPCAM. (EM/D3)D3. (試料番号)T28. (照射条件)JMTR温度変動. (照射温度)300/500℃.

(備考)表面ざらざら　要仕上げ研磨.

日付: [1996年]8/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105965. ？, JMTR温度変動①, 200/400℃, BF, 50K., [1996年]8/13.

 アイテム
資料番号: L-105965
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTR温度変動①. (照射温度)200/400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「8/13」. 実験者元記載「堀木」.

日付: [1996年]8/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105966. ？, JMTR温度変動①, 200/400℃, DF, 100K., [1996年]8/13.

 アイテム
資料番号: L-105966
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTR温度変動①. (照射温度)200/400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1996年]8/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105967. ？, JMTR温度変動①, 200/400℃, DF, 100K., [1996年]8/13.

 アイテム
資料番号: L-105967
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTR温度変動①. (照射温度)200/400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1996年]8/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105968. ？, JMTR温度変動①, 200/400℃, DF, 150K., [1996年]8/13.

 アイテム
資料番号: L-105968
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTR温度変動①. (照射温度)200/400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1996年]8/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105969. ？, JMTR温度変動①, 200/400℃, ED., [1996年]8/13.

 アイテム
資料番号: L-105969
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTR温度変動①. (照射温度)200/400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1996年]8/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105970. ？, JMTR温度変動③, 200/400℃, BF, 20K., [1996年]8/13.

 アイテム
資料番号: L-105970
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTR温度変動③. (照射温度)200/400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1996年]8/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105971. ？, JMTR温度変動③, 200/400℃, DF, 100K., [1996年]8/13.

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資料番号: L-105971
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTR温度変動③. (照射温度)200/400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1996年]8/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105972. ？, JMTR温度変動③, 200/400℃, DF, 100K., [1996年]8/13.

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資料番号: L-105972
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTR温度変動③. (照射温度)200/400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1996年]8/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105973. ？, JMTR温度変動③, 200/400℃, DF, 150K., [1996年]8/13.

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資料番号: L-105973
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTR温度変動③. (照射温度)200/400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1996年]8/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105974. ？, JMTR温度変動③, 200/400℃, ED., [1996年]8/13.

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資料番号: L-105974
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTR温度変動③. (照射温度)200/400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1996年]8/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105975. ？, JMTR温度変動③, 200/400℃, BF, 50K., [1996年]8/13.

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資料番号: L-105975
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTR温度変動③. (照射温度)200/400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1996年]8/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105976. ？, JMTR温度変動③, 200/400℃, DF, 100K., [1996年]8/13.

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資料番号: L-105976
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTR温度変動③. (照射温度)200/400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1996年]8/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105977. ？, JMTR温度変動③, 200/400℃, DF, 150K., [1996年]8/13.

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資料番号: L-105977
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTR温度変動③. (照射温度)200/400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1996年]8/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105978. ？, JMTR温度変動④, 200/400℃, BF, 20K., [1996年]8/13.

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資料番号: L-105978
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTR温度変動④. (照射温度)200/400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1996年]8/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105979. ？, JMTR温度変動④, 200/400℃, DF, 100K., [1996年]8/13.

 アイテム
資料番号: L-105979
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTR温度変動④. (照射温度)200/400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1996年]8/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105980. ？, JMTR温度変動④, 200/400℃, DF, 100K., [1996年]8/13.

 アイテム
資料番号: L-105980
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTR温度変動④. (照射温度)200/400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1996年]8/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105981. ？, JMTR温度変動④, 200/400℃, DF, 50K., [1996年]8/13.

 アイテム
資料番号: L-105981
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTR温度変動④. (照射温度)200/400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)析出物.

日付: [1996年]8/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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