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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

7081 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100278. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100278
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)内部.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100279. V, Heイオン, 300sec, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100279
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dot.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100280. V, Heイオン, 300sec, BF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100280
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dot　試料きたない厚いところへ場所変えた.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100281. V, Heイオン, 300sec, BF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100281
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100282. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100282
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100283. V, Heイオン, 300sec, BF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100283
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100284. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100284
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100285. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100285
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100286. V, Heイオン, 300sec, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100286
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100287. V, Heイオン, 300sec, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100287
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100288. V, Heイオン, 300sec, BF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100288
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100289. V, Heイオン, 300sec, ED., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100289
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100290. V, Heイオン, 300sec, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100290
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)dot少し.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100291. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100291
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100292. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100292
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)別な場所.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100293. V, Heイオン, 300sec, BF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100293
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)別な場所.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100294. V, Heイオン, 300sec, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100294
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100295. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100295
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100296. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100296
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100297. V, Heイオン, 300sec, BF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100297
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ用.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100298. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100298
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)もう1枚（ダミー）.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100299. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100299
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)Before　e-　irr　Area A ④α　下6.3赤20（80）. 日付元記載「2/1」. 実験者元記載「Y. Ogasawara.」.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100300. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100300
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)④α.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100301. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, ED., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100301
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)④α.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100302. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100302
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)④α.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100303. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100303
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)④α.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100304. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100304
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)④β下4.5　13（200）.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100305. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100305
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)④β.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100306. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, ED., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100306
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)④β.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100307. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100307
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)④β.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100308. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100308
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)④β.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100309. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100309
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)③β.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100310. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100310
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)③β.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100311. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-100311
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)③β.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100312. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

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資料番号: L-100312
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)③β.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100313. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 7.3K., [1995年]2/1.

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資料番号: L-100313
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.3K.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100314. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 7.3K., [1995年]2/1.

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資料番号: L-100314
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.3K.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100315. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 7.3K., [1995年]2/1.

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資料番号: L-100315
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.3K.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100316. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 7.3K., [1995年]2/1.

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資料番号: L-100316
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.3K.

日付: [1995年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100318. ？, RTNS-II, 290℃, S, BF, 20K., [1995年]2/2.

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資料番号: L-100318
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考) -8.5赤（0-6, 280）.日付元記載「2/2」. 実験者元記載「堀木」.

日付: [1995年]2/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100319. ？, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1995年]2/2.

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資料番号: L-100319
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]2/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100320. ？, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1995年]2/2.

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資料番号: L-100320
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]2/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100321. ？, RTNS-II, 290℃, S, ED., [1995年]2/2.

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資料番号: L-100321
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]2/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100322. ？, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1995年]2/2.

 アイテム
資料番号: L-100322
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)11.5（6-12、0）.

日付: [1995年]2/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100323. ？, RTNS-II, 290℃, S, ED., [1995年]2/2.

 アイテム
資料番号: L-100323
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]2/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100324. Ni, A957, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/2.

 アイテム
資料番号: L-100324
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A957. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　上5.0赤30（300）. 日付元記載「2/2」. 実験者元記載「Y. Ogasawara.」.

日付: [1995年]2/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100325. Ni, A957, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/2.

 アイテム
資料番号: L-100325
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A957. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100326. Ni, A957, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/2.

 アイテム
資料番号: L-100326
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A957. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100327. Ni, A957, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/2.

 アイテム
資料番号: L-100327
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A957. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100328. Ni, A957, RTNS-II, 150℃, ED., [1995年]2/2.

 アイテム
資料番号: L-100328
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A957. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1995年]2/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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