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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

7081 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100434. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100434
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100435. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100435
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100436. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100436
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)Area B　β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100437. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100437
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100438. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100438
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100439. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100439
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100440. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100440
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100441. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100441
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100442. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100442
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α＋22　B9＋180. 日付元記載「2/4」. 実験者元記載「前野, 井関」.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100443. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 50K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100443
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100444. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100444
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100445. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100445
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100446. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100446
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100447. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100447
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100448. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 50K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100448
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100449. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100449
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100450. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100450
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100451. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100451
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100452. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100452
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100453. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100453
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100454. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100454
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100455. Ni, Heイオン照射, 200℃, ED., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100455
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100456. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100456
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　一部終了.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100457. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 50K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100457
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100458. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100458
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100459. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100459
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100460. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100460
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100461. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 50K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100461
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100462. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 50K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100462
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　12、R0　320　100-＞200.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100463. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 37K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100463
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100464. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100464
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100465. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 50K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100465
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100466. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 37K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100466
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100467. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 37K., [1995年]2/4.

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資料番号: L-100467
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100468. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年]2/4.

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資料番号: L-100468
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100469. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 50K., [1995年]2/4.

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資料番号: L-100469
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)100-＞220.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100470. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年]2/4.

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資料番号: L-100470
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)100-200.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100471. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 50K., [1995年]2/4.

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資料番号: L-100471
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100472. Ni, RTNS-II+e-irr, 150℃., [1995年]2/4.

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資料番号: L-100472
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　ボツ. 日付元記載「2/4」. 実験者元記載「Y. Ogasawara.」.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100473. Ni, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

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資料番号: L-100473
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100474. Ni, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

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資料番号: L-100474
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100475. Ni, RTNS-II+e-irr, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100475
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100476. Ni, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100476
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100477. Ni, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

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資料番号: L-100477
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100478. Ni, RTNS-II+e-irr, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100478
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100479. Ni, RTNS-II+e-irr, 150℃., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100479
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃.

(備考)β　ボツ.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100480. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

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資料番号: L-100480
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)日付元記載「2/5」.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100481. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100481
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)　＋Δ.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100482. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, BF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100482
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100483. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

 アイテム
資料番号: L-100483
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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