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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

7081 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101522. Cu, Cuイオン照射130keV, TR, BF., [1995年]3/18.

 アイテム
資料番号: L-101522
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射130keV. (照射温度)TR. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

日付: [1995年]3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101523. Cu, Cuイオン照射131keV, TR, BF., [1995年]3/18.

 アイテム
資料番号: L-101523
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射131keV. (照射温度)TR. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

(備考)αの分.

日付: [1995年]3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101524. Cu, Cuイオン照射132keV, TR, DF., [1995年]3/18.

 アイテム
資料番号: L-101524
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射132keV. (照射温度)TR. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]3/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101526. ？, DF, 50K., [1995年]3月24日.

 アイテム
資料番号: L-101526
範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)(2月10日）照射分STEREO撮影Area　A　α(x＝＋3.5y＝赤3＋20/360）. 日付元記載「3月24日」. 実験者元記載「松本, 荒河」.

日付: [1995年]3月24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101527. ？, DF, 50K., [1995年]3月24日.

 アイテム
資料番号: L-101527
範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)α　Area　B.

日付: [1995年]3月24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101528. ？, DF, 50K., [1995年]3月24日.

 アイテム
資料番号: L-101528
範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)X.

日付: [1995年]3月24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101529. ？, DF, 50K., [1995年]3月24日.

 アイテム
資料番号: L-101529
範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)β　（ｘ＝＋9　Y＝赤8＋340/360）Area　A.

日付: [1995年]3月24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101530. ？, DF, 50K., [1995年]3月24日.

 アイテム
資料番号: L-101530
範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)β　Area　B.

日付: [1995年]3月24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101531. ？, ED., [1995年]3月24日.

 アイテム
資料番号: L-101531
範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]3月24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101532. ？, DF, 50K., [1995年]3月24日.

 アイテム
資料番号: L-101532
範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)α　(x＝-2　y＝黒2＋240/360）Area　C.

日付: [1995年]3月24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101533. ？, DF, 50K., [1995年]3月24日.

 アイテム
資料番号: L-101533
範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)α　Area　D.

日付: [1995年]3月24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101534. ？, DF, 50K., [1995年]3月24日.

 アイテム
資料番号: L-101534
範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)α　Area　D.

日付: [1995年]3月24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101535. ？, DF, 50K., [1995年]3月24日.

 アイテム
資料番号: L-101535
範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)β　(x＝＋4　y＝黒7＋80/360）Area　C.

日付: [1995年]3月24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101536. ？, DF, 50K., [1995年]3月24日.

 アイテム
資料番号: L-101536
範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)β　Area　D.

日付: [1995年]3月24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101537. ？, ED., [1995年]3月24日.

 アイテム
資料番号: L-101537
範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]3月24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101538. ？, DF, 50K., [1995年]3月24日.

 アイテム
資料番号: L-101538
範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area　D.

日付: [1995年]3月24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101539. ？, DF, 50K., [1995年]3月24日.

 アイテム
資料番号: L-101539
範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area　C.

日付: [1995年]3月24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101540. ？, DF, 50K., [1995年]3月24日.

 アイテム
資料番号: L-101540
範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area　A.

日付: [1995年]3月24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101541. ？, DF., [1995年]3月24日.

 アイテム
資料番号: L-101541
範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area　B.

日付: [1995年]3月24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101543. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 50K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101543
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α（28°3°＋300/120）. 日付元記載「3/29 (WED)」. 実験者元記載「前野」.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101544. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 50K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101544
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101545. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101545
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101546. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101546
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101547. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 50K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101547
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β（35°、3°＋120/120）.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101548. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 50K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101548
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101549. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101549
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101550. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101550
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101551. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, ED., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101551
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101552. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101552
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101553. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 50K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101553
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)以上　Area　①.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101554. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101554
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)Area②（37.5°、0°＋50/120）. 日付元記載「3/29 (WED)」.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101555. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 500K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101555
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)500K.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101556. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 50K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101556
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101557. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101557
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101558. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, ED., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101558
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101559. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 50K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101559
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)（黒37.5、赤0°＋30/120）α1.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101560. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

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資料番号: L-101560
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α1.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101561. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

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資料番号: L-101561
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α1.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101562. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 50K., [1995年]3/29 (WED).

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資料番号: L-101562
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)（31.5°黒0°＋60/100）.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101563. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

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資料番号: L-101563
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)（31.5°黒0°＋60/100）.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101564. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

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資料番号: L-101564
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)（31.5°黒0°＋60/100）.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101565. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

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資料番号: L-101565
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)（31.5°黒0°＋60/100）.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101566. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 50K., [1995年]3/29 (WED).

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資料番号: L-101566
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β1（30°黒0°＋50/120）.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101567. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101567
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β1.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101568. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101568
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β1.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101569. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 50K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101569
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)黒30°黒0°、90/120.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101570. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101570
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)黒30°黒0°、90/120.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101571. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101571
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)黒30°黒0°、90/120.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101572. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, ED., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101572
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101573. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101573
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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