共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94794. Cu, H111, JMTR　improve, 90℃, DF, 100K., [1994年]6/16.

アイテム

資料番号: L-94794

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H111. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)　＋3赤12（200）.

日付: [1994年]6/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94795. Cu, H111, JMTR　improve, 90℃, ED., [1994年]6/16.

アイテム

資料番号: L-94795

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H111. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]6/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94796. Cu, H111, JMTR　improve, 90℃, BF, 100K., [1994年]6/16.

アイテム

資料番号: L-94796

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H111. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

日付: [1994年]6/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94797. Cu, H111, JMTR　improve, 90℃, DF, 100K., [1994年]6/16.

アイテム

資料番号: L-94797

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H111. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]6/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94798. Ni-2Cu, e-照射, BF, 100K., [1994年]6/18 (土).

アイテム

資料番号: L-94798

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)e-照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)日付元記載「6/18 (土)」. 実験者名らしきものが記載されているが読めず.

日付: [1994年]6/18 (土).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94799. Ni-2Cu, e-照射, BF, 100K., [1994年]6/18 (土).

アイテム

資料番号: L-94799

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)e-照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]6/18 (土).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94800. Ni-2Cu, e-照射, DF, 100K., [1994年]6/18 (土).

アイテム

資料番号: L-94800

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)e-照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]6/18 (土).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94801. Ni-2Cu, e-照射, DF, 100K., [1994年]6/18 (土).

アイテム

資料番号: L-94801

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)e-照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]6/18 (土).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94802. Ni-2Cu, e-照射, ED., [1994年]6/18 (土).

アイテム

資料番号: L-94802

範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)e-照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]6/18 (土).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94803. Cu, H112, JMTR　improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., [1994年]6/18 (土).

アイテム

資料番号: L-94803

範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)H112. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋20赤24（0）.

日付: [1994年]6/18 (土).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94804. Cu, H112, JMTR　improve, 90℃, Low dose, BF, 100K., [1994年]6/18.

アイテム

資料番号: L-94804

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H112. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α. 日付元記載「6/18」. 実験者元記載「Kizuka」.

日付: [1994年]6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94805. Cu, H112, JMTR　improve, 90℃, Low dose, ED., [1994年]6/18.

アイテム

資料番号: L-94805

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H112. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94806. Cu, H112, JMTR　improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., [1994年]6/18.

アイテム

資料番号: L-94806

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H112. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋25赤18（0）.

日付: [1994年]6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94807. Cu, H112, JMTR　improve, 90℃, Low dose, BF, 100K., [1994年]6/18.

アイテム

資料番号: L-94807

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H112. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94808. Cu, H112, JMTR　improve, 90℃, Low dose, ED., [1994年]6/18.

アイテム

資料番号: L-94808

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H112. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94809. Cu, H112, JMTR　improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., [1994年]6/18.

アイテム

資料番号: L-94809

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)H112. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94810. Cu-2Ni, H442, JMTR　improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., [1994年]6/18.

アイテム

資料番号: L-94810

範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)H442. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α＋20赤6（240）.

日付: [1994年]6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94811. Cu-2Ni, H442, JMTR　improve, 90℃, Low dose, BD, 100K., [1994年]6/18.

アイテム

資料番号: L-94811

範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)H442. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1994年]6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94812. Cu-2Ni, H442, JMTR　improve, 90℃, Low dose, ED., [1994年]6/18.

アイテム

資料番号: L-94812

範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)H442. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94813. Cu-2Ni, H442, JMTR　improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., [1994年]6/18.

アイテム

資料番号: L-94813

範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)H442. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β　＋13赤12（340）.

日付: [1994年]6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94814. Cu-2Ni, H442, JMTR　improve, 90℃, Low dose, BD, 100K., [1994年]6/18.

アイテム

資料番号: L-94814

範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)H442. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β.

日付: [1994年]6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94815. Cu-2Ni, H442, JMTR　improve, 90℃, Low dose, ED., [1994年]6/18.

アイテム

資料番号: L-94815

範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)H442. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94816. Cu-2Ni, H442, JMTR　improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., [1994年]6/18.

アイテム

資料番号: L-94816

範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)H442. (照射条件)JMTR　improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94817. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94817

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋10黒0（340）. 日付元記載「1994 6/18」.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94818. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, BD, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94818

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94819. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, ED., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94819

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94820. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94820

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋5黒6（140）.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94821. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, BD, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94821

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94822. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, ED., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94822

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94823. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94823

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94824. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 30K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94824

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)隣のgrain（ref）.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94825. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94825

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94826. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94826

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94827. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, BD, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94827

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94828. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94828

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94829. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose, BF, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94829

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94830. Cu-2Ge, H452, JMTR improve, 90℃, Low dose., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94830

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H452. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose.

(備考)失敗.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94831. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94831

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋25黒0（100）.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94832. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94832

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94833. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, BF, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94833

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94834. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, ED., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94834

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94835. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94835

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋20黒6（240）.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94836. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, BF, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94836

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94837. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, ED., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94837

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94838. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94838

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94839. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94839

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)同じgrain別視野　.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94840. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, BF, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94840

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)同じgrain別視野　.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94841. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94841

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-12赤0（220）. 日付元記載「6/19」.

日付: [1994年]6/19.