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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

7081 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94844. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94844
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-15赤6（300）.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94845. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, BF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94845
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94846. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, ED., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94846
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94847. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94847
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94848. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94848
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94849. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, BF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94849
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94850. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94850
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94851. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, BF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94851
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94852. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 50K., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94852
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94853. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94853
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose.

(備考)失敗.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94854. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF, 100K., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94854
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋27黒6（100）. 日付元記載「6/19」. 実験者元記載「Kiz」.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94855. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF, 100K., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94855
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94856. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, BF, 100K., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94856
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94857. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, ED., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94857
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94858. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF, 100K., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94858
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋21黒6（50）.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94859. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, BF, 100K., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94859
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94860. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, ED., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94860
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94861. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF, 50K., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94861
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94862. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF, 50K., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94862
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94863. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF, 100K., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94863
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94864. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, BF, 100K., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94864
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94865. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF, 100K., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94865
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94866. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94866
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋5黒0（160）. 日付元記載「6/19」.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94867. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, BF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94867
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94868. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94868
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94869. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, BF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94869
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94870. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, ED., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94870
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94871. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94871
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94872. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94872
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋8クロ6（280）.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94873. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, BF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94873
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94874. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, ED., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94874
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94875. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94875
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94876. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94876
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)別の視野.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94877. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, BF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94877
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)別の視野.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94878. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94878
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)別の視野.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94879. Cu-2Sn, H781, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94879
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)H781. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α　＋7黒12（60）. 日付元記載「6/19」.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94880. Cu-2Sn, H781, JMTR improve, 90℃, Highdose, BF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94880
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H781. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94881. Cu-2Sn, H781, JMTR improve, 90℃, Highdose, ED., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94881
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H781. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94882. Cu-2Sn, H781, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

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資料番号: L-94882
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H781. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94883. Cu-2Sn, H781, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

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資料番号: L-94883
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H781. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94884. Cu-2Sn, H781, JMTR improve, 90℃, Highdose, BF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94884
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H781. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94885. Cu-2Sn, H781, JMTR improve, 90℃, Highdose, ED., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94885
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H781. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94886. Cu-2Sn, H781, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94886
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H781. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94887. Cu-2Sn, H781, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94887
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H781. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)別の視野(上と間Grain）.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94888. Cu-2Sn, H781, JMTR improve, 90℃, Highdose, BF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94888
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H781. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)別の視野.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94889. Cu-2Sn, H781, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94889
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H781. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)別の視野.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94890. Cu-2Sn, H781, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

 アイテム
資料番号: L-94890
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H781. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)失敗.

日付: [1994年]6/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94892. Ni, DF, 100K., [1994年]6/20.

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資料番号: L-94892
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)焼鈍実験　α　30.5黒2（80）. 日付元記載「6/20」. 実験者元記載「by 小笠原」.

日付: [1994年]6/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94893. Ni, BF, 100K., [1994年]6/20.

 アイテム
資料番号: L-94893
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1994年]6/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94894. Ni., [1994年]6/20.

 アイテム
資料番号: L-94894
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)α.

日付: [1994年]6/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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