メインコンテンツへスキップ

共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

7081 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97479. Si, BF, 30K?., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97479
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K?.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97480. Si, BF, 50K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97480
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97481. Si, DF, 5K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97481
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97482. Si, DF, 5K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97482
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97483. Si, DF, 5K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97483
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97484. Si, BF, 5K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97484
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97485. Si, BF, 50K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97485
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Heat treated Si　600℃x48h∔900℃x3h∔1100℃x24h（II）.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97486. Si, BF, 50K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97486
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97487. Si, BF, 50K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97487
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97488. Si, BF, 50K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97488
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97489. Si, BF, 50K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97489
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97490. Si, BF, 10K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97490
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97491. Si, BF, 10K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97491
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97492. Si, BF, 10K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97492
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97493. Si, BF, 10K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97493
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97494. Si, BF, 100K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97494
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Heat treated Si　600℃x48h∔900℃x4h∔1100℃x24h（II）.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97495. Si, BF, 100K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97495
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97496. Si., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97496
範囲と内容

(試料)Si.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97497. Si., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97497
範囲と内容

(試料)Si.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97498. Si., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97498
範囲と内容

(試料)Si.

(備考)板状あり.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97499. Si, 100K., [1994年11月12日.]

 アイテム
資料番号: L-97499
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年11月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97500. Si, BF, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97500
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)PLATE-＞OCT　Heat treated Si　600℃x48h∔900℃x4h∔1100℃x24h. 日付元記載「11/13」. 実験者元記載「サトウ」.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97501. Si, BF, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97501
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97502. Si, BF, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97502
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97503. Si, BF, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97503
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97504. Si, BF, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97504
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97505. Si, BF, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97505
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97506. Si, BF, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97506
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97507. Si, BF, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97507
範囲と内容

(試料)Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97508. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97508
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)Heat treated Si　600℃x48h∔900℃x4h∔1100℃x14h.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97509. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97509
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97510. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97510
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97511. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97511
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97512. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97512
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)すぐ隣.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97513. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97513
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97514. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97514
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97515. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97515
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97516. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97516
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97517. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97517
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97518. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97518
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97519. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97519
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97520. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97520
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97521. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97521
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97522. Si, 100K., [1994年]11/13.

 アイテム
資料番号: L-97522
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97523. Si, 100K., [1994年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-97523
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)Heat treated Si　600℃x48h∔900℃x4h∔1100℃x8h.

日付: [1994年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97524. Si, 100K., [1994年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-97524
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97525. Si, 100K., [1994年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-97525
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97526. Si, 100K., [1994年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-97526
範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97527. Si., [1994年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-97527
範囲と内容

(試料)Si. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97528. Si., [1994年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-97528
範囲と内容

(試料)Si.

日付: [1994年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ