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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

7081 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97629. Ni, A006, 300℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97629
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A006. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　B.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97630. Ni, A006, 300℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97630
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A006. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　C.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97631. Ni, A006, 300℃, ED., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97631
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A006. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97632. Ni, He ion照射, 200℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97632
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞0.

(備考)α　-17, 赤6（140）. 日付元記載「11/18」. 実験者元記載「前野」.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97633. Ni, He ion照射, 200℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97633
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞0.

(備考)α　.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97634. Ni, He ion照射, 200℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97634
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞0.

(備考)α　.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97635. Ni, He ion照射, 200℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97635
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞0.

(備考)α　.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97636. Ni, He ion照射, 200℃, BF, 100K., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97636
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)α　.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97637. Ni, He ion照射, 200℃, BF, 100K., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97637
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)α　.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97638. Ni, He ion照射, 200℃, BF, 100K., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97638
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)α　.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97639. Ni, He ion照射, 200℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97639
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)β　-10、赤6（50）.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97640. Ni, He ion照射, 200℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97640
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97641. Ni, He ion照射, 200℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97641
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97642. Ni, He ion照射, 200℃, BF, 100K., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97642
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97643. Ni, He ion照射, 200℃, BF, 100K., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97643
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97644. Ni, He ion照射, 200℃, BF, 100K., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97644
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97645. Ni, He ion照射, 200℃, ED., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97645
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97646. Ni, He ion照射, 200℃, ED., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97646
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97647. Ni, He ion照射, 200℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97647
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞0.

(備考)edge.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97648. Ni, He ion照射, 200℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97648
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＝1.5.

(備考)奥.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97649. Ni, He ion照射, 200℃, BF, 100K., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97649
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)edge.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97650. Ni, He ion照射, 200℃, BF, 100K., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97650
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＝0.5.

(備考)奥.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97651. Ni, He ion照射, 200℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97651
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＝0.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97654. Ni, He ion照射, 200℃., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97654
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃.

(備考)dummy.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97655. Ni, He ion照射, 200℃., [1994年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-97655
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃.

(備考)dummy.

日付: [1994年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97656. Ni, e-irr, DF, 100K., [1994年]11/19 (土).

 アイテム
資料番号: L-97656
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞＞0.

(備考)EM　300℃JMTR　after e- irr　α　A　2回目の取り方. 日付元記載「11/19 (土)」. 実験者元記載「小笠原」.

日付: [1994年]11/19 (土).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97657. Ni, e-irr, DF, 100K., [1994年]11/19 (土).

 アイテム
資料番号: L-97657
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞＞0.

(備考)α　A　2回目の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97658. Ni, e-irr, DF, 100K., [1994年]11/19 (土).

 アイテム
資料番号: L-97658
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞＞0.

(備考)α　B　2回目の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97659. Ni, e-irr, DF, 100K., [1994年]11/19 (土).

 アイテム
資料番号: L-97659
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞＞0.

(備考)α　C　2回目の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97660. Ni, e-irr, DF, 100K., [1994年]11/19 (土).

 アイテム
資料番号: L-97660
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)α　A　2回目の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97661. Ni, e-irr, DF, 100K., [1994年]11/19 (土).

 アイテム
資料番号: L-97661
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)α　B　2回目の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97662. Ni, e-irr, DF, 100K., [1994年]11/19 (土).

 アイテム
資料番号: L-97662
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞＞0.

(備考)β　A　2回目の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97663. Ni, e-irr, DF, 100K., [1994年]11/19 (土).

 アイテム
資料番号: L-97663
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞＞0.

(備考)β　B　2回目の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97664. Ni, e-irr, DF, 100K., [1994年]11/19 (土).

 アイテム
資料番号: L-97664
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞＞0.

(備考)β　C　2回目の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97665. Ni, e-irr, BF, 100K., [1994年]11/19 (土).

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資料番号: L-97665
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)β　A　最初の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97666. Ni, e-irr, BF, 100K., [1994年]11/19 (土).

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資料番号: L-97666
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)β　B　最初の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97667. Ni, e-irr, BF, 100K., [1994年]11/19 (土).

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資料番号: L-97667
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)α　A　最初の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97668. Ni, e-irr, BF, 100K., [1994年]11/19 (土).

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資料番号: L-97668
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)α　B　最初の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97670. Ni, e-irr, BF, 100K., [1994年]11/19 Sat.

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資料番号: L-97670
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＝0.

(備考)JMTR300EM A006重畳照射after e- irr　α（-7, R0（100））. 日付元記載「11/19 Sat.」. 実験者元記載「河内」.

日付: [1994年]11/19 Sat.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97671. Ni, e-irr, DF., [1994年]11/19 Sat.

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資料番号: L-97671
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1994年]11/19 Sat.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97672. Ni, e-irr, BF., [1994年]11/19 Sat.

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資料番号: L-97672
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β（-8.5、B6(100)).

日付: [1994年]11/19 Sat.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97673. Ni, e-irr, DF., [1994年]11/19 Sat.

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資料番号: L-97673
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1994年]11/19 Sat.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97674. Ni, e-irr, BF, 100K., [1994年]11/19 Sat.

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資料番号: L-97674
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＝0.

(備考)α（-12、B0（660）.

日付: [1994年]11/19 Sat.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97675. Ni, e-irr, BF., [1994年]11/19 Sat.

 アイテム
資料番号: L-97675
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β（-9、R0(180)).

日付: [1994年]11/19 Sat.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97676. Ni, e-irr, BF, 100K., [1994年]11/19 Sat.

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資料番号: L-97676
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＝0.

日付: [1994年]11/19 Sat.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97677. Ni, e-irr., [1994年]11/19 Sat.

 アイテム
資料番号: L-97677
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr.

日付: [1994年]11/19 Sat.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97678. Ni, e-irr., [1994年]11/19 Sat.

 アイテム
資料番号: L-97678
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr.

日付: [1994年]11/19 Sat.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97679. Ag, B-3（かいじゅう型）, LASREF, 7, DF, 100K., [1994年]11/21.

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資料番号: L-97679
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)B-3（かいじゅう型）. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)D3　α-17.5黒3（220）e-irr前　obs.1. 日付元記載「11/21」. 実験者元記載「Kizuka」.

日付: [1994年]11/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97680. Ag, B-3（かいじゅう型）, LASREF, 7, DF, 100K., [1994年]11/21.

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資料番号: L-97680
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)B-3（かいじゅう型）. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)α.

日付: [1994年]11/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97681. Ag, B-3（かいじゅう型）, LASREF, 7, DF, 100K., [1994年]11/21.

 アイテム
資料番号: L-97681
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)B-3（かいじゅう型）. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)α.

日付: [1994年]11/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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