メインコンテンツへスキップ

共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

7081 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98499. Ni., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98499
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)45分　β.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98500. Ni., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98500
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)60分　β.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98501. Ni., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98501
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)90分　β.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98502. Ni., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98502
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)120分　β.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98503. Ni., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98503
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)150分　β.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98504. Ni., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98504
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)150分 β.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98505. Ni, DF, 100K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98505
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98506. Ni, DF, 100K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98506
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98507. Ni, DF, 100K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98507
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98508. Ni, DF, 100K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98508
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98509. Ni, DF, 50K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98509
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98511. Cu-0.05Ni, D222, 200℃, BF, 30K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98511
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)D222. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (反射ベクトルg)near 110. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)多分割　方位依存性. 日付元記載「12/17」. 実験者元記載「河内」.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98512. Cu-0.05Ni, D222, 200℃, ED., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98512
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)D222. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98513. Cu-0.05Ni, D222, 200℃, BF, 30K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98513
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)D222. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (反射ベクトルg)near 211. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98514. Cu-0.05Ni, D222, 200℃, ED., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98514
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)D222. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98515. Cu-0.3Si, D227, 200℃, BF, 20K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98515
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)D227. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)near 211. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)多分割.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98516. Cu-0.3Si, D227, 200℃, BF., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98516
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)D227. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98517. Cu-0.3Si, D227, 200℃, 30K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98517
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)D227. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)30K.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98518. Cu-0.3Si, D227, 200℃, ED., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98518
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)D227. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98519. Cu-0.3Si, D227, 200℃, BF, 30K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98519
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)D227. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (反射ベクトルg)near 110. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98520. Cu-0.3Si, D227, 200℃, ED., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98520
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)D227. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98521. Cu-0.3Si, D227, 200℃, BF, 30K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98521
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)D227. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (反射ベクトルg)near 100.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98522. Cu-0.3Si, D227, 200℃, ED., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98522
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)D227. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98523. Cu-0.05Sn, D225, 200℃, BF, 30K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98523
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)D225. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (反射ベクトルg)near 211. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98524. Cu-0.05Sn, D225, 200℃, ED., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98524
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)D225. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98525. Cu-0.05Sn, D225, 200℃, BF, 30K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98525
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)D225. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)ミス.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98526. Cu-0.05Sn, D225, 200℃, Dummy., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98526
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)D225. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)Dummy.

(備考)多分割　試料厚すぎる.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98527. Cu, Cu+60keV, map用, 100., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98527
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)100.

(備考)12.16irr. 日付元記載「12/17」. 実験者元記載「加藤, 木塚」.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98528. Cu, Cu+60keV, map用, 100., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98528
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)100.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98529. Cu, Cu+60keV, map用, 100., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98529
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)100.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98530. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98530
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98531. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98531
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98532. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98532
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98533. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98533
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98534. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98534
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98535. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98535
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98536. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98536
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98537. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98537
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98538. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98538
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98539. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98539
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98540. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98540
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98541. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98541
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98542. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98542
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98543. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98543
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98544. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98544
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98545. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98545
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98546. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98546
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98547. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98547
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98548. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98548
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98549. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98549
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ