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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

3703 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102234. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102234
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102235. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102235
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102236. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102236
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)奥（R39.5°B9＋3x300/360).

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102237. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 50K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102237
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102238. Ni, Heイオン照射, 100nA, ED., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102238
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102239. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102239
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge　R33.5　B9＋3x120/360).

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102240. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102240
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)奥.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102241. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 50K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102241
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102242. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102242
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102243. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 50K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102243
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102244. Ni, Heイオン照射, 100nA, 100K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102244
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (条件・倍率等)100K.

(備考)別の場所.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102245. Ni, Heイオン照射, 100nA, 100K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102245
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102246. Ni, Heイオン照射, 50nA, 100K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102246
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)50nA. (条件・倍率等)100K.

(備考)B31　B21　3ｘ100/360.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102247. Ni, Heイオン照射, 50nA, 100K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102247
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)50nA. (条件・倍率等)100K.

(備考)B31　B21　3ｘ100/360.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102248. Ni, Heイオン照射, 50nA, 50K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102248
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)50nA. (条件・倍率等)50K.

(備考)B31　B21　3ｘ100/360.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102249. Ni, Heイオン照射, 50nA, ED., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102249
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B31　B21　3ｘ100/360.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102250. Ni, Heイオン照射, 50nA, 100K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102250
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)50nA. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102251. Ni, Heイオン照射, 50nA, 50K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102251
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)50nA. (条件・倍率等)50K.

(備考)B23　B15　3x240/360.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102252. Ni, Heイオン照射, 50nA, ED., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102252
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B23　B15　3x240/360.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102253. Ni, Heイオン照射, 50nA, 100K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102253
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)50nA. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B23　B15　3x240/360.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102254. Ni, Heイオン照射, 50nA, 50K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102254
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)50nA. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B23　B15　3x240/360.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102255. Ni, Heイオン照射, 25nA, 100K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102255
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (条件・倍率等)100K.

(備考)R29　R9　3x240/360.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102256. Ni, Heイオン照射, 25nA, 100K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102256
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (条件・倍率等)100K.

(備考)R29　R9　3x240/360.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102257. Ni, Heイオン照射, 25nA, 50K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102257
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (条件・倍率等)50K.

(備考)R29　R9　3x240/360.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102258. Ni, Heイオン照射, 25nA, ED., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102258
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)（R22、R6　3x20/360).

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102259. Ni, Heイオン照射, 25nA, 100K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102259
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102260. Ni, Heイオン照射, 25nA, 100K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102260
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102261. Ni, Heイオン照射, 25nA, 50K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102261
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102262. Ni, Heイオン照射, 25nA, ED., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102262
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102263. Ni, Heイオン照射, 25nA, 50K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102263
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102264. Ni, Heイオン照射, 25nA, 200K., [1995年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-102264
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (条件・倍率等)200K.

日付: [1995年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102265. ？, JMTRcontroll, 200℃, BF, 20K., [1995年]6/10.

 アイテム
資料番号: L-102265
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α-1黒（5-10,30）. 日付元記載「6/10」. 実験者元記載「堀木」.

日付: [1995年]6/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102266. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 100K., [1995年]6/10.

 アイテム
資料番号: L-102266
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0　s＝8.2.

(備考)α.

日付: [1995年]6/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102267. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 150K., [1995年]6/10.

 アイテム
資料番号: L-102267
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

(備考)α.

日付: [1995年]6/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102268. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 150K., [1995年]6/10.

 アイテム
資料番号: L-102268
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

(備考)α.

日付: [1995年]6/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102269. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 100K., [1995年]6/10.

 アイテム
資料番号: L-102269
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1995年]6/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102270. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 150K., [1995年]6/10.

 アイテム
資料番号: L-102270
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]6/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102271. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 100K., [1995年]6/10.

 アイテム
資料番号: L-102271
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1995年]6/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102272. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 150K., [1995年]6/10.

 アイテム
資料番号: L-102272
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞8.

(備考)β＋3.5赤(0-5,260).

日付: [1995年]6/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102273. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 100K., [1995年]6/10.

 アイテム
資料番号: L-102273
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞8.

(備考)β.

日付: [1995年]6/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102274. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 150K., [1995年]6/10.

 アイテム
資料番号: L-102274
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞8.

(備考)β.

日付: [1995年]6/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102275. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 100K., [1995年]6/10.

 アイテム
資料番号: L-102275
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞8.

(備考)β.

日付: [1995年]6/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102276. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 150K., [1995年]6/10.

 アイテム
資料番号: L-102276
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝7.

(備考)β.

日付: [1995年]6/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102277. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 100K., [1995年]6/10.

 アイテム
資料番号: L-102277
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝7.

(備考)β.

日付: [1995年]6/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102278. ？, JMTRcontroll, 200℃, ED., [1995年]6/10.

 アイテム
資料番号: L-102278
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　DF(s＝7).

日付: [1995年]6/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102279. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 150K., [1995年]6/10.

 アイテム
資料番号: L-102279
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝7.

(備考)450℃　30分焼鈍下降.

日付: [1995年]6/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102280. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 100K., [1995年]6/10.

 アイテム
資料番号: L-102280
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝7.

日付: [1995年]6/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102281. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 150K., [1995年]6/10.

 アイテム
資料番号: L-102281
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102282. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 100K., [1995年]6/10.

 アイテム
資料番号: L-102282
範囲と内容

(試料)？. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102283. ？, JMTRcontroll, 200℃, BF, 20K., [1995年]6/14.

 アイテム
資料番号: L-102283
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α＋5.5赤(0-5,40). 日付元記載「6/14」.

日付: [1995年]6/14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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