メインコンテンツへスキップ

共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

3703 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102399. V, Cu+(126keV)照射, DF, 100K., [1995年]6/23.

 アイテム
資料番号: L-102399
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cu＋(126keV)照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102400. V, Cu+(127keV)照射, ED., [1995年]6/23.

 アイテム
資料番号: L-102400
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cu＋(127keV)照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]6/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102401. V, Cu+(128keV)照射, DF, 100K., [1995年]6/23.

 アイテム
資料番号: L-102401
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cu＋(128keV)照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)n＝5.

(備考)G2.

日付: [1995年]6/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102402. V, Cu+(129keV)照射, DF, 100K., [1995年]6/23.

 アイテム
資料番号: L-102402
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cu＋(129keV)照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)n＝4.

(備考)G2.

日付: [1995年]6/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102403. V, Cu+(130keV)照射, DF, 100K., [1995年]6/23.

 アイテム
資料番号: L-102403
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cu＋(130keV)照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)n＝5.

(備考)G2.

日付: [1995年]6/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102404. V, Cu+(131keV)照射, BF, 100K., [1995年]6/23.

 アイテム
資料番号: L-102404
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cu＋(131keV)照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)n＝3.

(備考)G2.

日付: [1995年]6/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102405. V, Cu+(132keV)照射, DF, 100K., [1995年]6/23.

 アイテム
資料番号: L-102405
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cu＋(132keV)照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)n＝2.5.

(備考)G2.

日付: [1995年]6/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102406. V, Cu+(133keV)照射, ED., [1995年]6/23.

 アイテム
資料番号: L-102406
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cu＋(133keV)照射. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)G2.

日付: [1995年]6/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102407. V, Cu+(134keV)照射, DF., [1995年]6/23.

 アイテム
資料番号: L-102407
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cu＋(134keV)照射. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)n＝6.

(備考)G2.

日付: [1995年]6/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102408. ？, JMTRcontroll, 200℃, BF, 50K., [1995年]6/24.

 アイテム
資料番号: L-102408
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)3hr　anneal. 日付元記載「6/24」. 実験者元記載「森」.

日付: [1995年]6/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102409. ？, JMTRcontroll, 200℃, BF, 50K., [1995年]6/24.

 アイテム
資料番号: L-102409
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)違う場所.

日付: [1995年]6/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102410. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 150K., [1995年]6/24.

 アイテム
資料番号: L-102410
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)G.

日付: [1995年]6/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102411. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 100K., [1995年]6/24.

 アイテム
資料番号: L-102411
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)G.

日付: [1995年]6/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102412. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 150K., [1995年]6/24.

 アイテム
資料番号: L-102412
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)GB.

日付: [1995年]6/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102413. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 100K., [1995年]6/24.

 アイテム
資料番号: L-102413
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)GB.

日付: [1995年]6/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102414. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 150K., [1995年]6/24.

 アイテム
資料番号: L-102414
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1995年]6/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102415. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 150K., [1995年]6/24.

 アイテム
資料番号: L-102415
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝7.

(備考)G.

日付: [1995年]6/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102416. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 100K., [1995年]6/24.

 アイテム
資料番号: L-102416
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝7.

(備考)G.

日付: [1995年]6/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102417. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 150K., [1995年]6/24.

 アイテム
資料番号: L-102417
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝7.

(備考)GB.

日付: [1995年]6/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102418. ？, JMTRcontroll, 200℃, DF, 100K., [1995年]6/24.

 アイテム
資料番号: L-102418
範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝7.

(備考)GB.

日付: [1995年]6/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102431. Ni, Heイオン照射, 200nA, BF, 100K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102431
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ. 日付元記載「6/26」. 実験者元記載「K.M」.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102432. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102432
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102433. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 50K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102433
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102434. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 50K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102434
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102435. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 50K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102435
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102436. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 50K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102436
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102437. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102437
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102438. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 50K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102438
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102439. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102439
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102440. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102440
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102441. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 50K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102441
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102442. Ni, Heイオン照射, 200nA., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102442
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA.

(備考)失敗.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102443. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, DF, 100K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102443
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)実験者元記載「M.Iseki」.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102444. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, DF, 50K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102444
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102445. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, BF, 100K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102445
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102446. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, BF, 50K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102446
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102447. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, BF, 10K., [1995年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-102447
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)滑り線あり.

日付: [1995年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102448. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, BF, 50K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102448
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)つづき（110）面.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102449. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, DF, 50K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102449
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102450. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, DF, 50K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102450
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102451. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, DF, 50K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102451
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102452. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, DF, 100K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102452
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102453. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, DF, 100K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102453
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102454. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, DF, 100K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102454
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)内部.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102455. Au, Heイオン照射, 200nA　1200s, BF, 100K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102455
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　1200s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102456. Au, Heイオン照射, 200nA　600s, BF, 20K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102456
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　600s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)（100）面　厚さ測定用　ごみの無い端.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102457. Au, Heイオン照射, 200nA　600s, DF, 20K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102457
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

(備考)面　厚さ測定用　ごみの無い端　窪みあり.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102458. Au, Heイオン照射, 200nA　600s, BF, 50K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102458
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　600s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102459. Au, Heイオン照射, 200nA　600s, DF, 50K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102459
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102460. Au, Heイオン照射, 200nA　600s, DF, 100K., [1995年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-102460
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA　600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)外.

日付: [1995年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ