メインコンテンツへスキップ

共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

3703 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103169. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103169
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)Bエリア.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103170. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103170
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103171. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103171
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)R＝27　B180/360ｘ3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103172. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103172
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103173. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103173
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103174. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103174
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103175. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 50K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103175
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)エリアA.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103176. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 50K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103176
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)エリアB.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103177. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, ED., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103177
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103178. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103178
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)R 26.5　B3°　40/360ｘ3. 日付元記載「10/7」.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103179. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103179
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103180. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103180
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103181. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103181
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103182. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103182
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103183. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103183
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103184. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103184
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103185. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, ED., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103185
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103186. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103186
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)R19.5　3°100/360ｘ3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103187. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103187
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103188. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103188
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103189. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103189
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103190. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103190
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103191. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103191
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103192. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, ED., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103192
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103193. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103193
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103194. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 50K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103194
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103195. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 50K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103195
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103196. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103196
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)R11.5　6°120/360ｘ3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103197. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103197
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103198. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103198
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103199. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103199
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103200. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, ED., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103200
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103201. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103201
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)R3.5　3°20/360ｘ3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103202. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103202
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103203. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103203
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103204. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103204
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103205. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, ED., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103205
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103206. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, DF, 50K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103206
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103223. Ni, Heイオン照射, 300℃., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103223
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃.

(備考)（340、-593）0.10中央側への欠陥がなくなる. 日付元記載「10/13」.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103224. Ni, Heイオン照射, 300℃., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103224
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃.

(備考)（400、-710）0.10外から欠陥があるところまで.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103225. Ni, Heイオン照射, 300℃., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103225
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃.

(備考)（-132、423）0.10反対の外から　”.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103226. Ni, Heイオン照射, 300℃., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103226
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃.

(備考)（-101,230）0.10中央からの　”.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103227. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103227
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)R33.5　B0＋260/360ｘ3　edge.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103228. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103228
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)奥.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103229. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103229
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103230. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103230
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)さらに.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103231. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103231
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103232. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103232
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)奥.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103233. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103233
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)さらにおく.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103234. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103234
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ