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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

3703 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103235. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103235
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)奥.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103236. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103236
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103237. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103237
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)奥.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103238. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, ED., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103238
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103239. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103239
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)R26.0　B0°＋100/360ｘ3　　e1.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103240. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103240
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e2　A.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103241. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103241
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e3.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103242. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103242
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e1　B.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103243. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103243
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e2　.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103244. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103244
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e1　.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103245. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103245
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e2　A.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103246. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103246
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e3.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103247. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103247
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e1.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103248. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103248
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e2　B.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103249. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 50K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103249
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103250. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 50K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103250
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103251. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 50K., [1995年]10/13.

 アイテム
資料番号: L-103251
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]10/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103252. Ni, Heイオン照射, 300℃, 840sec, DF, 100K., [1995年10月13日]

 アイテム
資料番号: L-103252
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)840sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)BR30　0°320/360ｘ3.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103253. Ni, Heイオン照射, 300℃, 840sec, DF, 100K., [1995年10月13日]

 アイテム
資料番号: L-103253
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)840sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103254. Ni, Heイオン照射, 300℃, 840sec, BF, 100K., [1995年10月13日]

 アイテム
資料番号: L-103254
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)840sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103255. Ni, Heイオン照射, 300℃, 840sec, BF, 100K., [1995年10月13日]

 アイテム
資料番号: L-103255
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)840sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103256. Ni, Heイオン照射, 300℃, 840sec., [1995年10月13日]

 アイテム
資料番号: L-103256
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)840sec.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103257. Ni, Heイオン照射, 300℃, 840sec., [1995年10月13日]

 アイテム
資料番号: L-103257
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)840sec.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103258. Ni, Heイオン照射, 300℃, 840sec., [1995年10月13日]

 アイテム
資料番号: L-103258
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)840sec.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103259. Ni, Heイオン照射, 300℃, 840sec., [1995年10月13日]

 アイテム
資料番号: L-103259
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)840sec.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103260. Ni, Heイオン照射, 300℃, 840sec., [1995年10月13日]

 アイテム
資料番号: L-103260
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)840sec.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103261. Ni, Heイオン照射, 300℃, 280sec, DF, 100K., [1995年10月13日]

 アイテム
資料番号: L-103261
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)280sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B31　R12　20/360ｘ3.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103262. Ni, Heイオン照射, 300℃, 281sec, DF, 100K., [1995年10月13日]

 アイテム
資料番号: L-103262
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)281sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103263. Ni, Heイオン照射, 300℃, 282sec, BF, 100K., [1995年10月13日]

 アイテム
資料番号: L-103263
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)282sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edgeにせん.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103264. Ni, Heイオン照射, 300℃, 283sec, DF, 100K., [1995年10月13日]

 アイテム
資料番号: L-103264
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)283sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B33　R12 60/360x3　edge.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103265. Ni, Heイオン照射, 300℃, 284sec, DF, 100K., [1995年10月13日]

 アイテム
資料番号: L-103265
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)284sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)おく.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103266. Ni, Heイオン照射, 300℃, 285sec, BF, 100K., [1995年10月13日]

 アイテム
資料番号: L-103266
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)285sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103267. Ni, Heイオン照射, 300℃, 286sec, DF, 100K., [1995年10月13日]

 アイテム
資料番号: L-103267
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)286sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B26　R6 230/360x3　edge.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103268. Ni, Heイオン照射, 300℃, 287sec, DF, 100K., [1995年10月13日]

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資料番号: L-103268
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)287sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)おく.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103269. Ni, Heイオン照射, 300℃, 288sec, ED., [1995年10月13日]

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資料番号: L-103269
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)288sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103270. Ni, Heイオン照射, 300℃, 289sec, DF, 50K., [1995年10月13日]

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資料番号: L-103270
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)289sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103272. ？, DF, 200K., [1995年]10/14.

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資料番号: L-103272
範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)日付元記載「10/14」. 実験者元記載「堀木」.

日付: [1995年]10/14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103273. V, Heイオン照射, DF, 100K., [1995年]10/16.

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資料番号: L-103273
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考) -6黒3（160）n＝7. 日付元記載「10/16」. 実験者元記載「森」.

日付: [1995年]10/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103274. V, Heイオン照射, DF, 100K., [1995年]10/16.

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資料番号: L-103274
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)n＝6.

日付: [1995年]10/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103275. V, Heイオン照射, DF, 100K., [1995年]10/16.

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資料番号: L-103275
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)n＝5.

日付: [1995年]10/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103276. V, Heイオン照射, ED., [1995年]10/16.

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資料番号: L-103276
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103277. V, Heイオン照射, BF, 100K., [1995年]10/16.

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資料番号: L-103277
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)n＝3強.

日付: [1995年]10/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103278. V, Heイオン照射, BF, 100K., [1995年]10/16.

 アイテム
資料番号: L-103278
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)n＝3弱.

日付: [1995年]10/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103279. V, Heイオン照射, BF, 100K., [1995年]10/16.

 アイテム
資料番号: L-103279
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)-n＝3弱.

日付: [1995年]10/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103280. V, Heイオン照射, BF, 100K., [1995年]10/16.

 アイテム
資料番号: L-103280
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)-n＝3弱.

日付: [1995年]10/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103281. V, Heイオン照射., [1995年]10/16.

 アイテム
資料番号: L-103281
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103282. V, Heイオン照射, DF, 100K., [1995年]10/16.

 アイテム
資料番号: L-103282
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)-n＝3.

日付: [1995年]10/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103283. V, Heイオン照射, DF, 100K., [1995年]10/16.

 アイテム
資料番号: L-103283
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)-n＝4.

日付: [1995年]10/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103284. V, Heイオン照射, DF, 100K., [1995年]10/16.

 アイテム
資料番号: L-103284
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)-n＝5.

日付: [1995年]10/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103285. V, Heイオン照射, DF, 100K., [1995年]10/16.

 アイテム
資料番号: L-103285
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)-n＝6.

日付: [1995年]10/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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