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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

3703 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105378. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]3/12.

 アイテム
資料番号: L-105378
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)GB側.

日付: [1996年]3/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105379. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]3/12.

 アイテム
資料番号: L-105379
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1996年]3/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105380. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]3/12.

 アイテム
資料番号: L-105380
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1996年]3/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105381. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]3/12.

 アイテム
資料番号: L-105381
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)tilt＋2.5赤(6-12,240).

日付: [1996年]3/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105382. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]3/12.

 アイテム
資料番号: L-105382
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)n＝3.

日付: [1996年]3/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105383. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]3/12.

 アイテム
資料番号: L-105383
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)n＝6　tilt＋10.5赤(6-12,300).

日付: [1996年]3/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105384. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]3/12.

 アイテム
資料番号: L-105384
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)n＝7.

日付: [1996年]3/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105385. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, ED., [1996年]3/12.

 アイテム
資料番号: L-105385
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)（n＝7）.

日付: [1996年]3/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105386. Ni-2Cu, After　e-irr, BF, 100K., [1996年]3/12.

 アイテム
資料番号: L-105386
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)After　e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β. 日付元記載「3/12」. 実験者元記載「小笠原」.

日付: [1996年]3/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105387. Ni-2Cu, After　e-irr, BF, 20K., [1996年]3/12.

 アイテム
資料番号: L-105387
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)After　e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)β　A.

日付: [1996年]3/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105388. Ni-2Cu, After　e-irr, BF, 50K., [1996年]3/12.

 アイテム
資料番号: L-105388
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)After　e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　A.

日付: [1996年]3/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105389. Ni-2Cu, After　e-irr, BF, 20K., [1996年]3/12.

 アイテム
資料番号: L-105389
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)After　e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)β　B.

日付: [1996年]3/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105390. Ni-2Cu, After　e-irr, BF, 50K., [1996年]3/12.

 アイテム
資料番号: L-105390
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)After　e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　B.

日付: [1996年]3/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105391. Ni-2Cu, RTNS-II, 290℃, M, BF, 20K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105391
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)α下0.5黒3（60）A.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105392. Ni-2Cu, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105392
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　A.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105393. Ni-2Cu, RTNS-II, 290℃, M, BF, 20K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105393
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)α　B.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105394. Ni-2Cu, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105394
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　B.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105395. Ni-2Cu, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105395
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105396. Ni-2Cu, RTNS-II, 290℃, M, BF, 20K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105396
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)β上2.2黒13（60）A.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105397. Ni-2Cu, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105397
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　A.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105398. Ni-2Cu, RTNS-II, 290℃, M, BF, 20K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105398
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)β　B.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105399. Ni-2Cu, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105399
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　B.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105400. Ni-2Cu, RTNS-II, 290℃, M, BF, 10K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105400
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)β　ア.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105401. Ni-2Cu, RTNS-II, 290℃, M, BF, 10K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105401
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)β　イ.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105402. Ni-2Cu, RTNS-II, 290℃, M, BF, 10K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105402
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)β　ウ.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105403. Ni-2Cu, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105403
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105404. Ni, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105404
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)GB　α　0.黒12（200）.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105405. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 20K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105405
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)α.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105406. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 20K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105406
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)α.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105407. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105407
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105408. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105408
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105409. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105409
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105410. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105410
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105411. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105411
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105412. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105412
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105413. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105413
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　上2.5黒19（120）.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105414. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

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資料番号: L-105414
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105415. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

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資料番号: L-105415
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105416. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

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資料番号: L-105416
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105417. Ni, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1996年3月12日.]

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資料番号: L-105417
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105418. Ni, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105418
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105419. Ni, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105419
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105420. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 10K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105420
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)B.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105421. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 10K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105421
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)C.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105422. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 10K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105422
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105424. V, Cuイオン照射, RT., [1996年]3/12→13., [1996-03-12/1996-03-13.]

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資料番号: L-105424
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)RT.

(備考)前回のs＝0　Area　A. 日付元記載「3/12→13」（切り替わるタイミングは不明）. 実験者元記載「森」.

日付: [1996年]3/12→13.; [1996-03-12/1996-03-13.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105425. V, Cuイオン照射, RT., [1996年]3/12→13., [1996-03-12/1996-03-13.]

 アイテム
資料番号: L-105425
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)RT.

(備考)Area　B.

日付: [1996年]3/12→13.; [1996-03-12/1996-03-13.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105426. V, Cuイオン照射, RT, BF., [1996年]3/12→13., [1996-03-12/1996-03-13.]

 アイテム
資料番号: L-105426
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)Area A　n＝3　-g.

日付: [1996年]3/12→13.; [1996-03-12/1996-03-13.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105427. V, Cuイオン照射, RT, DF., [1996年]3/12→13., [1996-03-12/1996-03-13.]

 アイテム
資料番号: L-105427
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)n＝6　-ｇ.

日付: [1996年]3/12→13.; [1996-03-12/1996-03-13.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105428. V, Cuイオン照射, RT, BF., [1996年]3/12→13., [1996-03-12/1996-03-13.]

 アイテム
資料番号: L-105428
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)n＝3　＋ｇ　上5赤0（40）.

日付: [1996年]3/12→13.; [1996-03-12/1996-03-13.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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