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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

7250 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29380. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29380
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29381. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29381
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29382. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29382
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29383. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29383
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29384. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29384
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29385. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29385
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29386. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29386
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29387. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29387
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　＋14.5黒3（100）　.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29388. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29388
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　　同一視野　ループ動く.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29389. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29389
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29390. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29390
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29391. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29391
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)β.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29392. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29392
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)β.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29393. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29393
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29394. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29394
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)逆のｇ.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29395. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29395
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)逆のｇ.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29396. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29396
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)逆のｇ.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29397. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29397
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)γ　別の200.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29398. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29398
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)γ　別の200.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29399. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29399
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ　別の200.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29400. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29400
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)δ.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29401. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29401
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)δ.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29402. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29402
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29403. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29403
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)ε.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29404. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29404
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)ε.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29405. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29405
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ε.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29406. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29406
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)κ.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29407. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29407
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)κ.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29408. Ni, B183, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29408
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B183. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)κ.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29409. Ni-2Si, G319, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29409
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G319. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29410. Ni-2Si, G319, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29410
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G319. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29411. Ni-2Si, G319, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29411
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G319. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29412. Ni-2Si, G319, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29412
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G319. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29413. Ni-2Si, G319, RTNS-II, 200℃, SS., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29413
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G319. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29414. Ni-2Si, G319, RTNS-II, 200℃, SS., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29414
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G319. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29415. Ni-2Si, G319, RTNS-II, 200℃, SS., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29415
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G319. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29416. Ni-2Si, G319, RTNS-II, 200℃, SS., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29416
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G319. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29417. Ni-2Si, G319, RTNS-II, 200℃, SS., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29417
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G319. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29418. Ni-2Si, G319, RTNS-II, 200℃, SS., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29418
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G319. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29419. Ni-2Si, G319, RTNS-II, 200℃, SS, BF., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29419
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G319. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29420. Ni-2Si, G319, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29420
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G319. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29421. Ni-2Si, G319, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29421
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G319. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29422. Ni-2Si, G319, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29422
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G319. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dislocation.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29423. Ni-2Si, G319, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29423
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G319. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dislocation.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29424. Ni-2Si, G319, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29424
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G319. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dislocation.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29425. Ni-2Si, G319, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29425
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G319. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dislocation.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29426. Ni-2Si, G319, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29426
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G319. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dislocation.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29427. Ni-2Si, G319, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29427
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G319. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29428. Ni, N312, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29428
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)N312. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29429. Ni, N312, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1986年8月3日以降5日以前.], [1986-08-03/1986-08-05.]

 アイテム
資料番号: O-29429
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N312. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年8月3日以降5日以前.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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