[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54299. Ni-2Ge, JMTR controlled, 290℃, 7., [1988年11月30日以降.]
アイテム
資料番号: O-54299
範囲と内容
(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (照射量)7.
日付
- 作成: [1988年11月30日以降.]
作成者
- 義家, 敏正, 1948- (Creator, 個人)
- 北海道大学工学部精密工学科物理工学講座 (Contributor, 団体)
- 京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野 (Custodian, 団体)
資料の言語
日本語 Japanese
資料の言語
English
使用条件
原本現在使用不可.
The original is currently unavailable.
分量(全体)
1 枚.
参考文献
T. Yoshiie, K. Hamada, S. Kojima, M. Kiritani. The role of free point defects in defect structure evolution during cascade damage. Defect and Diffusion Forum. 1993, Vols.95-98, p.243-248. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/DDF.95-98.243 (accessed 2021-03-23).
Fig. 3 Ni-2at%Ge
Fig. 3 Ni-2at%Ge
出所・作成(表示) | Origination (exp.)
北海道大学義家研究室.
«ARK(former)»
https://peek.rra.museum.kyoto-u.ac.jp/ark:/62587/ar114199.180047
主題
- 義家, 敏正, 1948- (個人)
- 北海道大学工学部精密工学科物理工学講座 (団体)
- 京都大学複合原子力科学研究所照射材料工学研究分野 (団体)
リポジトリの詳細
つぎのリポジトリの一部: Kyoto University Research Resource Archive リポジトリ
連絡先:
(運営責任部局) 京都大学総合博物館 The Kyoto University Museum
左京区 吉田本町 Sakyo-ku Yoshida honmachi,
京都市 Kyoto city, 京都府 Kyoto prefecture, 606-8501 Japan
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左京区 吉田本町 Sakyo-ku Yoshida honmachi,
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